[发明专利]一种太阳能电池的制备方法在审

专利信息
申请号: 202210764251.1 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115172148A 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 李兵;赵增超;李明;成秋云 申请(专利权)人: 湖南红太阳光电科技有限公司
主分类号: H01L21/268 分类号: H01L21/268;H01L31/20;H01L21/321;H01L21/3213;H01L31/0224;H01L31/0236
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 何文红
地址: 410205 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能电池 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种太阳能电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、对P型硅片正面进行制绒;

S2、在P型硅片正面生长隧穿氧化层;

S3、在隧穿氧化层上依次沉积磷掺杂非晶硅薄膜和掩膜;所述掩膜为氧化硅薄膜和/或磷掺杂氧化硅薄膜;

S4、采用激光对非金属化区域进行开窗处理,去除掩膜;

S5、对开窗区域进行制绒;

S6、对P型硅片正面进行磷扩散和退火处理,在开窗区域形成轻掺杂n型发射极以及在未开窗区域形成隧穿钝化接触结构;

S7、对P型硅片背面进行刻蚀和对P型硅片正面进行清洗,完成对太阳能电池的制备。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,步骤S2中,采用化学氧化法、热氧法、PECVD法或ALD法在P型硅片正面生长隧穿氧化层;所述隧穿氧化层的厚度为0.5nm~2.5nm;所述隧穿氧化层为氧化硅层。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,步骤S3中,采用PECVD法或PVD法在隧穿氧化层上依次沉积磷掺杂非晶硅薄膜和掩膜;所述磷掺杂非晶硅薄膜的厚度为30nm~300nm;所述磷掺杂非晶硅薄膜的磷掺杂浓度为1E20cm-3~1E21cm-3

4.据权利要求3述的制备方法,其特征在于,步骤S3中,所述磷掺杂非晶硅薄膜的厚度为60nm~150nm;所述磷掺杂非晶硅薄膜的磷掺杂浓度为2E20cm-3~7E20cm-3

5.根据权利要求1~4中任一项所述的制备方法,其特征在于,步骤S1中,采用碱性溶液对P型硅片正面进行制绒,形成金字塔绒面;所述金字塔绒面的尺寸为0.5μm~3μm;所述碱性溶液为氢氧化钾溶液、氢氧化钠溶液、TMAH溶液中的至少一种;所述P型硅片的电阻率为0.3Ω·cm~7Ω·cm。

6.根据权利要求1~4中任一项所述的制备方法,其特征在于,步骤S4中,所述开窗处理完成后,未被去除的金属化区域的保留宽度为30μm~200μm。

7.根据权利要求1~4中任一项所述的制备方法,其特征在于,步骤S5中,采用碱性溶液对开窗区域进行制绒,去除激光损伤并在非金属化区域硅片表面形成金字塔绒面;所述金字塔绒面的尺寸为0.5μm~3μm;所述碱性溶液为氢氧化钾溶液、氢氧化钠溶液、TMAH溶液中的至少一种。

8.根据权利要求1~4中任一项所述的制备方法,其特征在于,步骤S6中,所述磷扩散的温度为800℃~950℃;所述退火处理的温度为800℃~950℃;所述轻掺杂n型发射极的扩散方阻为120~250Ω/sq;

步骤S7中,采用氢氟酸和硝酸的混合溶液对硅片背面进行刻蚀,去除背面和边缘绕扩PSG;采用氢氟酸溶液对硅片正面进行清洗,去除掩膜和PSG。

9.根据权利要求1~4中任一项所述的制备方法,其特征在于,步骤S7中,在刻蚀和清洗完成后,还包括:在P型硅片正面和背面生长钝化层、在P型硅片正面和背面生长减反射层、背面开窗、金属化、烧结和后处理。

10.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,采用热氧法或PECVD法在P型硅片正面生长钝化层;所述钝化层为氧化硅层和/或氮化硅层;所述钝化层的厚度为1nm~5nm;

采用ALD法或PEALD法在P型硅片背面生长钝化层;所述钝化层为氧化铝层;所述钝化层的厚度为3nm~20nm;

采用PECVD法在P型硅片正面和背面分别生长减反射层;所述减反射层为氮化硅、氮氧化硅、氧化硅中的一种膜层或多种叠层膜;所述减反射层的厚度为60nm~150nm;

采用激光对P型硅片背面进行开窗;

采用丝网印刷或激光转印的方式在P型硅片正面制备正面副栅线和正面主栅电极,以及在P型硅片背面制备背面副栅线和背面主栅电极,完成对硅片的金属化处理;所述正面副栅线和正面主栅电极为银电极;所述背面副栅线为铝电极;所述背面主栅电极为银电极;

所述后处理包括利用光注入方式或电注入方式对电池片进行处理。

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