[发明专利]一种PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法与系统在审
申请号: | 202210721181.1 | 申请日: | 2022-06-24 |
公开(公告)号: | CN115482194A | 公开(公告)日: | 2022-12-16 |
发明(设计)人: | 张法全;陈庭威;孙成路;周利兵;沈满德;孔德进;吴子豪;周扬;汪存超 | 申请(专利权)人: | 武汉纺织大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06V10/75 |
代理公司: | 武汉江楚智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 42228 | 代理人: | 余丽霞 |
地址: | 430000 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 异型 元件 aoi 缺陷 检测 方法 系统 | ||
1.一种PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、拍取待测PCB板的图像;
S2、将拍取的待测PCB板图像中各个部件的图像分别与预存的各个部件的标准模板图像进行对比,根据对比结果来检测待测PCB板的各个部件是否合格,检测过程中,依次判断PCB板的电容、连接器、晶振、排针及端子排是否合格;
S3、根据拍取的PCB板的板面图像,对PCB板板面进行缺陷检测,判断PCB板的板面是否合格;
S4、若步骤S2与步骤S3中检测均合格则将PCB板送至合格区,否则反馈PCB板不合格的类型,再将PCB板送至不合格区。
2.根据权利要求1所述的PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,在步骤S2前,还包括步骤:根据待测PCB板的图像,对待测PCB板进行MARK点定位,若定位成功则进入步骤S2,若定位失败则直接终止对该PCB板的检测。
3.根据权利要求2所述的PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中,判断电容是否合格的步骤具体包括:
通过模板匹配算法,将拍取得到的PCB板图像中的电容图像与预存的标准电容模板图像进行对比;
根据对比结果,先判断电容是否缺失,若电容缺失则保存电容缺失信息并结束电容检测的步骤;
若电容未缺失则再判断电容的角度是否与标准模板电容的原角度相同,若相同则直接结束电容检测,若不同则保存电容极性不正确的信息,再结束电容检测的步骤。
4.根据权利要求3所述的PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中,判断连接器是否合格的步骤具体包括:
首先对待测PCB图像进行颜色空间转换,把RGB空间转换到HSV空间从而得到在V通道下的PCB图像,并找到在V通道下的连接器图像,随后通过区域灰度值匹配算法,将处理后得到的连接器图像与预存的标准连接器模板图像进行对比;
根据对比结果,先判断连接器是否缺失,若连接器缺失则保存连接器缺失信息并结束连接器检测的步骤;
若连接器未缺失则再对连接器图像进行灰度值缩放,从而凸显连接器的特征点区域,并将特征点区域平均分为上下两个区域,判断上区域的灰度平均值与下区域的灰度平均值的差是否大于0,若是则直接结束连接器检测,若不是则保存连接器极性不正确的信息,再结束连接器检测的步骤。
5.根据权利要求4所述的PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中,判断晶振是否合格的步骤具体包括:
找到在V通道下的晶振图像,随后通过区域灰度值匹配算法,将处理后得到的晶振图像与预存的标准晶振模板图像进行对比;
根据对比结果,判断晶振是否缺失,若晶振未缺失则直接结束晶振检测的步骤,若晶振缺失则保存晶振缺失信息再结束晶振检测的步骤。
6.根据权利要求5所述的PCB板的异型元件AOI缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中,判断排针是否合格的步骤具体包括:
找到在V通道下的排针图像,随后通过区域灰度值匹配算法,将处理后得到的排针图像与预存的标准排针模板图像进行对比;
根据对比结果,判断排针是否缺失,若排针未缺失则直接结束排针检测的步骤,若排针缺失则保存排针缺失信息再结束排针检测的步骤。
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