[发明专利]一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术在审
申请号: | 202210576790.2 | 申请日: | 2022-05-25 |
公开(公告)号: | CN114927437A | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 阙祥灯 | 申请(专利权)人: | 星源电子科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683;H01L25/075;G09F9/33 |
代理公司: | 合肥信诚兆佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34159 | 代理人: | 邓勇 |
地址: | 518132 广东省深圳市光明区玉塘街*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 miniled microled 巨量 转移 技术 | ||
本发明属于显示技术领域,尤其是一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术,现提出如下方案,包括以下步骤:S1基板膜层制备;准备基板膜层的板材和载板,在板材上制作金属线路,并将基板膜层的板材固定在载板上;S2基板膜层镂空,确定基板膜层上的镂空位点,并将上一层基板膜层的镂空位点作为下层基板膜层上LED的对位位点;S3确定基板膜层的载板的安装位点,用于承载LED;S4LED转移,将LED转移至基板膜层的镂空位点,并与载板的安装位点连接。本发明实现同色LED批量转移,极大提升转移效率;方便后续对完成好的单色LED模块进行对组操作,简化电路设计,提高生产效率,同时实现MiniLED和MicroLED的柔性显示。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术。
背景技术
目前市面上LED的转移技术都是一颗一颗或者局部一块一块转移;这样效率很慢,也没办法做重复设计;而且MicroLED显示是三种RGB色彩,这样给转移增加了更多的难度;业界诞生出至少三种精准抓取(FinePick/Place)的技术:静电力、凡德瓦力和磁力、选择性释放(SelectiveRelease)、自组装(Self-Assembly)及转印(RollPrinting);但对于基板基本都是一种,布线也是在一块基板上实现,这样导致的结果就是三种RGB色彩的LED芯片,需要选择性的植入;而且基板的布线都是多层的,生产和修复效率及其低下,为此需要一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术。
发明内容
本发明提出的一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术,解决了现有技术中存在的问题。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种MiniLED和MicroLED的巨量转移技术,包括以下步骤:
S1基板膜层制备;
准备基板膜层的板材和载板,在板材上制作金属线路,并将基板膜层的板材固定在载板上;
S2基板膜层镂空,确定基板膜层上的镂空位点,并将上一层基板膜层的镂空位点作为下层基板膜层上LED的对位位点;
S3确定基板膜层的载板的安装位点,用于承载LED;
S4LED转移,将LED转移至基板膜层的镂空位点,并与载板的安装位点连接。
优选的,所述基板膜层的层数依次为J1层、J2层···JN层,其中N≥3。
优选的,所述安装位点确立时:
单独确立J1和JN层的安装位点;
JN层的安装位点与JN-1层的镂空位点对应;
JN-1层的安装位点与JN-2层与JN-1层新增的镂空位点对应;
按照上述方式逐层确定JN-2层至J2层的安装位点。
优选的,所述镂空位点确立时:
J1层的镂空位点为J2层至JN层的总LED安装位点;
J2层的镂空位点为J3层至JN层的总LED安装位点;
后续按照此方式依次设置J3层至JN-1层的镂空位点。
优选的,所述板材上的金属线路为1-2层。
优选的,所述LED转移时,将单色LED逐层转移至基板膜层的镂空位点。
优选的,所述基板膜层上的镂空位点采用激光、光刻腐蚀和或切割方式成型,且镂空为自由形状。
优选的,同一所述基板膜层上的LED为同一颜色,且不限定颜色类型。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于星源电子科技(深圳)有限公司,未经星源电子科技(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210576790.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造