[发明专利]一种电容传感装置、接近度测量方法

权利要求书

1.一种接近度测量方法，其特征在于，该方法包括：

获取电容数据；其中，所述电容数据包括电容采样值及补偿电容值；

判断所述电容采样值是否在当前的接近度测量范围内；所述当前的接近度测量范围为当前补偿电容值对应的测量范围；

若所述电容采样值在当前的接近度测量范围内，则依据所述电容数据确定当前的接近度；

若所述电容采样值超出当前的接近度测量范围内，则调整所述补偿电容值、以调整所述接近度测量范围，再依据调整后的电容数据确定当前的接近度。

2.根据权利要求1所述的接近度测量方法，其特征在于，判断所述电容采样值是否在当前的接近度测量范围内之前，还包括：

判断当前采集动作是否为初始采集；

若否，则执行判断所述电容采样值是否在当前的接近度测量范围内的步骤。

3.根据权利要求2所述的接近度测量方法，其特征在于，在所述判断当前采集动作是否为初始采集之后，若是，则还包括：

确定初始的补偿电容值。

4.根据权利要求1所述的接近度测量方法，其特征在于，依据调整后的电容数据确定当前的接近度之前，还包括：

依据所述调整后的补偿电容信息，确定预计接近度；

判断所述预计接近度是否在接近度有效范围内；所述接近度有效范围为所述补偿电容的补偿能力对应的有效范围，所述接近度测量范围为所述接近度有效范围的子集；

若所述预计接近度在所述接近度有效范围内，则执行所述依据调整后的电容数据确定当前的接近度的步骤。

5.根据权利要求4所述的接近度测量方法，其特征在于，在判断所述预计接近度是否在接近度有效范围内之后，若所述预计接近度超出接近度有效范围内，则还包括：

判定为接近度异常状态。

6.根据权利要求4所述的接近度测量方法，其特征在于，所述接近度有效范围的下限值大于等于所述实际有效量程下限值，所述接近度有效范围的上限值小于等于所述实际有效量程上限值；

其中，所述实际有效量程为所述补偿电容的补偿能力对应的实际范围。

7.根据权利要求1-6任一项所述的接近度测量方法，其特征在于，所述接近度测量范围的下限值大于等于实际测量量程的下限值，以及，

所述接近度测量范围的上限值小于等于实际测量量程的上限值；

其中，所述实际测量量程为当前补偿电容值对应的实际范围。

8.一种电容传感装置，其特征在于，包括：电容传感器、MCU程序处理模块；

所述电容传感器用于为所述MCU程序处理模块提供电容数据；

所述电感传感器和所述MCU程序处理模块结合，实现如权利要求1-7任一项所述的接近度测量方法。

9.根据权利要求8所述的电容传感装置，其特征在于，所述电容传感器包括：补偿电容以及检测电容单元；

所述补偿电容，用于抵消所述电容传感器中的寄生电容；

所述检测电容单元的输入端与所述补偿电容相连，用于检测电容数据；

所述检测电容单元的输出端作为所述电容传感器的输出端。

10.根据权利要求8所述的电容传感装置，其特征在于，所述MCU程序处理模块包括：接近度测量模块及数据处理模块；

所述接近度测量模块，用于接收所述电容传感器提供电容采样值及补偿电容值；并动态调整所述补偿电容值，以及，向所述数据处理模块提供接近度数据和接近度异常标志；

所述数据处理模块，用于根据所述接近度测量模块提供的接近度数据和接近度异常标志，进行接近远离状态判断。