[发明专利]一种极片卷绕对齐度检测方法、系统、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种极片卷绕对齐度检测方法、系统、设备及存储介质，其中检测方法包括：响应于采集信号对卷针上卷绕体的隔膜表面进行光源照射，并对光源照射后的隔膜表面以及未卷绕至卷针上的极片表面进行拍摄以获取检测图像；对所述检测图像进行边界识别以获知所述卷绕体中各极片与各隔膜之间的边界位置，并对其进行边缘比对以输出对齐度检测结果。本发明利用相机对隔膜和极片间的对齐度进行检测，降低检测成本和难度，提高对齐度检测准确率。

技术领域

本发明涉及电池制备领域，尤其涉及一种极片卷绕对齐度检测方法、系统、设备及存储介质。

背景技术

现阶段，卷绕电池生产过程中，需要把激光切好后的极片，通过卷针的转动，把极片卷成一个层层包裹的卷芯状，正常包裹方式为隔膜、正极、隔膜、负极，使得隔膜和极片共同卷绕而成的卷绕体；其中，隔膜起着分隔正负极，防止电池内部短路，允许电解质离子自由通过，完成电化学充放电过程的作用。

由于隔膜与极片间相互堆叠使得位于最外层的隔膜会遮挡极片，因此无法通过普通相机拍摄卷绕体的方式来检测极片和隔膜间的对齐情况，若隔膜或极片在卷绕过程中出现偏移则会严重影响电池的生产质量。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种极片卷绕对齐度检测方法，利用相机对隔膜和极片间的对齐度进行检测，降低检测成本和难度，提高对齐度检测准确率。

本发明的目的之二在于提供一种极片卷绕对齐度检测系统。

本发明的目的之三在于提供一种电子设备。

本发明的目的之四在于提供一种计算机可读存储介质。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种极片卷绕对齐度检测方法，包括：

响应于采集信号对卷针上卷绕体的隔膜表面进行光源照射，并对光源照射后的隔膜表面以及未卷绕至卷针上的极片表面进行拍摄以获取检测图像；

对所述检测图像进行边界识别以获知所述卷绕体中各极片与各隔膜之间的边界位置，并对其进行边缘比对以输出对齐度检测结果。

进一步地，所述卷绕体由第一隔膜、第一极片、第二隔膜和第二极片依次叠放并卷绕在卷针上形成，所述卷绕体的隔膜表面为所述第一隔膜，所述卷绕体的极片内表面为所述第二极片。

进一步地，对所述卷绕体的隔膜表面进行照射的光源采用白光，白光光源照射所述隔膜表面使所述检测图像中所述第一隔膜处透光呈现出所述第一极片。

进一步地，采用一拍摄相机对已卷绕至所述卷针上的所述卷绕体的边缘位置以及未卷绕至所述卷针上的叠片边缘进行同时拍摄，并对所述检测图像进行灰度处理，提取所述第一隔膜、透光后的所述第一极片、所述第二隔膜以及所述第二极片的边缘线以完成边界识别。

进一步地，所述边缘比对包括所述第一极片与所述第二极片之间的边缘比对，以及极片与隔膜间进行边缘比对检测。

进一步地，所述边缘比对过程中，将边缘比对结果与预设误差范围进行比较，若边缘比对结果超过所述预设误差范围，则输出异常提醒。

进一步地，当检测得知边缘比对结果超过所述预设误差范围时，根据二者差值生成纠偏指令以实现纠偏闭环控制。

本发明的目的之二采用如下技术方案实现：

一种极片卷绕对齐度检测系统，执行如上述的极片卷绕对齐度检测方法；所述系统包括：

光源照射模块，用于对卷针上卷绕体的隔膜表面进行光源照射；

拍摄模块，用于对光源照射后的隔膜表面以及未卷绕至卷针上的极片表面进行拍摄以获取检测图像；