[发明专利]一种极片卷绕对齐度检测方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，包括：

响应于采集信号对卷针上卷绕体的隔膜表面进行光源照射，并对光源照射后的隔膜表面以及未卷绕至卷针上的极片表面进行拍摄以获取检测图像；

对所述检测图像进行边界识别以获知所述卷绕体中各极片与各隔膜之间的边界位置，并对其进行边缘比对以输出对齐度检测结果。

2.根据权利要求1所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，所述卷绕体由第一隔膜、第一极片、第二隔膜和第二极片依次叠放并卷绕在卷针上形成，所述卷绕体的隔膜表面为所述第一隔膜，所述极片表面为所述第二极片。

3.根据权利要求2所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，对所述卷绕体的隔膜表面进行照射的光源采用白光，白光光源照射所述隔膜表面使所述检测图像中所述第一隔膜处透光呈现出所述第一极片。

4.根据权利要求3所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，采用一拍摄相机对已卷绕至所述卷针上的所述卷绕体的边缘位置以及未卷绕至所述卷针上的叠片边缘进行同时拍摄，并对所述检测图像进行灰度处理，提取所述第一隔膜、透光后的所述第一极片、所述第二隔膜以及所述第二极片的边缘线以完成边界识别。

5.根据权利要求1所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，所述边缘比对包括极片间的边缘比对，以及极片与隔膜间的边缘比对检测。

6.根据权利要求5所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，所述边缘比对过程中，将边缘比对结果与预设误差范围进行比较，若边缘比对结果超过所述预设误差范围，则输出异常提醒。

7.根据权利要求6所述的极片卷绕对齐度检测方法，其特征在于，当检测得知边缘比对结果超过所述预设误差范围时，根据二者差值生成纠偏指令以实现纠偏闭环控制。

8.一种极片卷绕对齐度检测系统，其特征在于，执行如权利要求1～7任一所述的极片卷绕对齐度检测方法；所述系统包括：

光源照射模块，用于对卷针上卷绕体的隔膜表面进行光源照射；

拍摄模块，用于对光源照射后的隔膜表面以及未卷绕至卷针上的极片表面进行拍摄以获取检测图像；

检测模块，用于对所述检测图像进行边界识别以获知所述卷绕体中各极片与各隔膜之间的边界位置，并对其进行边缘比对以输出对齐度检测结果。

9.一种电子设备，其特征在于，其包括处理器、存储器及存储于所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1～7任一所述的极片卷绕对齐度检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现权利要求1～7任一所述的极片卷绕对齐度检测方法。