[发明专利]结型场效应晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210302891.0 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114709268A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 张炜虎;王珊珊;仇峰 申请(专利权)人: 上海积塔半导体有限公司
主分类号: H01L29/808 分类号: H01L29/808;H01L21/337;H01L29/10
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 别亚琴
地址: 200135 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种结型场效应晶体管,其特征在于,包括:

第一导电类型的基底(110);

至少两层阱区结构(120),层叠设置于所述基底(110);每一层所述阱区结构(120)包括第二导电类型的第一阱区(121),以及位于所述第一阱区(121)的相对两侧的两个第二阱区(122);其中,所述第二阱区(122)的导电类型与所述第二导电类型相反,且与所述第一导电类型相同;

漏极(130)和源极(140),分别形成于最上一层所述阱区结构(120)的所述第一阱区(121)的相对两侧;以及

栅极(150),形成于最上一层所述阱区结构(120)的两个所述第二阱区(122);

其中,相邻的两层所述阱区结构(120)中,相邻的两个所述第一阱区(121)彼此接触,同一侧的两个所述第二阱区(122)彼此相连。

2.根据权利要求1所述的结型场效应晶体管,其特征在于,所述第一阱区(121)包括沟道区(1211)和位于所述沟道区(1211)的相对两侧的两个漂移区(1212),所述沟道区(1211)上形成有位于所述漏极(130)和所述源极(140)之间的沟槽(1213);

所述至少两层所述阱区结构(120)包括位于最上层的A阱区结构(120a)和沿所述阱区结构(120)的层叠方向位于所述A阱区结构(120a)下方的至少一层B阱区结构(120b);

所述漏极(130)和所述源极(140)分别形成于所述A阱区结构(120a)中所述第一阱区(121)的两个所述漂移区(1212)。

3.根据权利要求2所述的结型场效应晶体管,其特征在于,所述A阱区结构(120a)中,所述第一阱区(121)上的所述沟槽(1213)内设有浅槽隔离结构(170),以将所述漏极(130)和所述源极(140)彼此隔离。

4.根据权利要求3所述的结型场效应晶体管,其特征在于,所述浅槽隔离结构(170)的纵长两端分别朝彼此背离的一侧延伸,并分别与所述A阱区结构(120a)中两个所述第二阱区(122)接触,以将该两个所述第二阱区(122)彼此隔离。

5.根据权利要求3所述的结型场效应晶体管,其特征在于,所述栅极(150)包括:

多晶硅层(151),设置于所述浅槽隔离结构(170);

栅电极层(152),设置于所述多晶硅层(151)远离所述浅槽隔离结构(170)的一侧;

栅极连接层(153),分别形成于所述A阱区结构(120a)的两个所述第二阱区(122),且所述栅极连接层(153)与所述栅电极层(152)接触。

6.根据权利要求2所述的结型场效应晶体管,其特征在于,还包括第一导电类型的中间衬底层(160);

所述中间衬底层(160)形成于所述B阱区结构(120b)中所述第一阱区(121)上的所述沟槽(1213)内,且所述中间衬底层(160)的相对两端延伸至所述沟槽(1213)外,以插设于相邻的两层所述阱区结构(120)中同一侧的两个所述第二阱区(122)之间。

7.根据权利要求6所述的结型场效应晶体管,其特征在于,所述中间衬底层(160)内以第一剂量掺杂第一类型离子,所述B阱区结构(120b)中所述第一阱区(121)内以第二剂量掺杂第二类型离子;

其中,所述第一剂量大于所述第二剂量。

8.根据权利要求7所述的结型场效应晶体管,其特征在于,相邻的两个所述阱区结构(120)中,其中一所述阱区结构(120)的所述第二阱区(122)以第三剂量掺杂第一类型离子,另一所述阱区结构(120)的所述第二阱区(122)以第四剂量掺杂第一类型离子;

其中,所述第三剂量和所述第四剂量均分别按照所述第一剂量进行设定,以使相邻的两个所述阱区结构(120)中同一侧的两个所述第二阱区(122)借助于所述中间衬底层(160)相连。

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