[发明专利]一种铱配合物衍生物、制备方法及其应用有效

专利信息
申请号: 202210263819.1 申请日: 2022-03-17
公开(公告)号: CN114573641B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 赵建章;温宇东;霍延平;籍少敏 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C07F15/00 分类号: C07F15/00;G03F7/004;G03F7/027
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 温福雪
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 配合 衍生物 制备 方法 及其 应用
【说明书】:

发明涉及光刻胶技术领域,涉及一种铱配合物衍生物、制备方法及其应用。本发明借助香豆素衍生物高摩尔吸收系数的性质,引入金属重原子铱原子加强其分子内的系间窜越,通过激发三重态,进而引发与共引发剂有效的发生电子转移,改变了光刻胶的敏感波长,并提高了光酸的产率,改善光刻胶组合物中的光敏性,进一步增强光刻胶的灵敏度、单体的交联能力、光刻胶的线宽粗糙度、分辨率、成膜能力。

技术领域

本发明涉及光刻胶技术领域,更具体地,涉及一种铱配合物衍生物、制备方法及其应用。

背景技术

光刻胶,又称光致抗蚀剂,是指通过紫外光、准分子激光、电子束、离子束、X射线等光源的照射或辐射,其溶解度发生变化的耐蚀刻薄膜材料。主要用于集成电路和半导体分立器件的微细加工,同时在平板显示、LED、倒扣封装磁头及精密传感器等制作过程中也有着广泛的应用。根据光化学反应机理不同,光刻胶分为正性光刻胶与负性光刻胶:曝光后,光刻胶在显影液中溶解性增加,得到与掩模版相同图形的称为正性光刻胶;曝光后,光刻胶在显影液中溶解性降低甚至不溶,得到与掩模版相反图形的称为负性光刻胶。而光刻胶的三个重要参数包括分辨率、灵敏度和线宽粗糙度,这些参数决定了光刻胶在芯片制造时的工艺窗口。

在光刻胶组合物中,较弱的灵敏度会致使单体无法得到充分的交联,需要加入光敏剂进一步调节其灵敏度。但过量的光敏剂会出现曝光过度现象,为此加入适当比例的光敏剂尤为重要。随着光刻技术的发展,光刻图案的尺寸要求越来越小,对光刻图案的分辨率和边缘粗糙度的要求也越来越高,因此,开发新的光敏体系改善光致抗蚀剂性能是很有必要的。

发明内容

为解决上述问题,本发明提供了一种铱配合物衍生物、制备方法及其在光刻胶中的应用,借助香豆素衍生物高摩尔吸收系数的性质,引入金属重原子铱原子加强其分子内的系间窜越,通过激发三重态,进而引发与共引发剂有效的发生电子转移,改变了光刻胶的敏感波长,并提高了光酸的产率,改善光刻胶组合物中的光敏性,进一步增强光刻胶的灵敏度、单体的交联能力、光刻胶的线宽粗糙度、分辨率、成膜能力等。

为达此目的,通过以下技术方案实现:

一种铱配合物衍生物,其结构为下式中的一种:

其中:

R1和R2选自氢原子、C1~C20的烷基、C3~C20的环烷基或具有碳碳不饱和双键的一价有机基团,R1和R2相同或不同;R3、R4、R5和R6选自氢原子、甲氧基、苯氧基、硝基、氰基、三氟甲基、羧基、巯基、卤素原子或烷基,R3、R4、R5和R6相同或不同;R7、R8、R9、R10、R11和R12选自碳原子或氮原子,R7、R8、R9、R10、R11和R12相同或不同。

所述的烷基可以是甲基、乙基或丙基,也可以是取代的甲基、乙基或丙基;C1~C20的烷基可以是甲基、乙基、正丙基、异丙基、正戊基、十二烷基、十八烷基或二十烷基;C3~C20的环烷基可以是环丙基、环戊基、环癸基、环十二烷基或环二十烷基;具有碳碳不饱和双键的一价有机基团,可以是乙烯基中的氢原子被部分取代的情况。

上述的铱配合物衍生物的制备方法,具体如下:

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