[发明专利]一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法

权利要求书

1.一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：采集电容图片；

S2：利用训练好的机器学习检测模型，进行电容极性判定；

S3：利用电容俯视图坐标系展开检测法进行电容极性判定；

S4：将上述两种结果进行分析，若两种判定结果一致，且判定结果与模板极性一致，则判定当前电测的电容为良品；否则，判定当前电测的电容出现极性反向缺陷，为次品。

2.根据权利要求1所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，步骤S1具体包括以下过程：在检测灯箱顶部和四周分别设置LED平面光源；在检测灯箱顶部设置工业相机以采集电容图片。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，步骤S2具体包括：图片预处理；HOG特征提取；将处理结果输入训练好的机器学习检测模型完成极性判定。

4.根据权利要求3所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述图片预处理过程具体包括：灰度化处理、统一像素尺寸以及滤波去噪；所述HOG特征提取具体包括：以像素尺寸的胞元单位获取图像的梯度统计信息。

5.根据权利要求1所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，步骤S3具体包括：俯视图片预处理、图片从极坐标转换为笛卡尔坐标、干扰信息滤除、特征信息提取以及极性判定。

6.根据权利要求5所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述俯视图片预处理过程具体包括：灰度化处理、像素尺寸统一、灰度梯度强化以及高斯滤波。

7.根据权利要求5所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述极坐标转换过程具体包括：首次极坐标映射、映射中心校正以及二次展开，其中映射中心校正根据首次极坐标映射展开后的内外圆分界曲线的水平度进行调整，最后将极坐标图片展开到笛卡尔系坐标。

8.根据权利要求5或7所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述干扰信息滤出过程具体包括：文字信息滤除以及椒盐噪声滤除，其中文字信息为电容顶部塑封区域中除极性标识之外的其他符号信息。

9.根据权利要求5所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述特征信息提取过程具体包括：内外圆分界曲线提取、分界平滑、提取极性ROI区域以及局部ROI区域自适应二值化。

10.根据权利要求9所述的一种用于插件电路板电解电容极性缺陷检测的方法，其特征在于，所述极性判定过程具体包括：设定极性区域内灰度高于阈值的亮点个数对应的极性情况，计算极性区域内灰度高于阈值的亮点个数，判定极性。