[发明专利]晶片夹具清洗装置和清洗方法在审
申请号: | 202210127124.0 | 申请日: | 2022-02-11 |
公开(公告)号: | CN114582786A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 江阔;胡新建;王泽飞 | 申请(专利权)人: | 华虹半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67;B08B3/02 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶片 夹具 清洗 装置 方法 | ||
本申请涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种晶片夹清洗装置和清洗方法。晶片夹具清洗装置包括:清洗腔,清洗腔连通上液装置和排液装置,上液装置用于将清洗液输送至清洗腔中,排液装置用于将清洗腔中的清洗液排出;烘干腔,烘干腔位于清洗腔上部,且与清洗腔连通;烘干腔中设有能够喷出烘干气体的烘干装置。使用所述晶片夹具清洗装置对晶片夹具进行清洗,晶片夹具清洗方法包括以下步骤:使得上液装置将清洗液输送至清洗腔中;使得晶片夹具穿过烘干腔向下进入清洗腔后,浸泡在清洗腔的清洗液中;使得晶片夹具离开清洗腔,向上进入烘干腔;启动烘干装置,向晶片夹具的第一夹爪和第二夹爪喷射出烘干气体,烘干晶片夹具的第一夹爪和第二夹爪。
技术领域
本申请涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种晶片夹清洗装置和清洗方法。
背景技术
在半导体集成电路制造过程中,需要对晶片衬底进行多种不同的工序操作,以加工形成半导体器件。通常通过晶片夹具装置夹取并移动晶片,使得该晶片移动至特定的工位。
为了避免污染被夹取的晶片,在使用该晶片夹具夹取晶片前,需要对该晶片夹具进行清洗。相关技术通常采用使得去离子水喷淋到晶片夹具表面的方案,以清除附着在晶片夹具表面的污染物。然后使用氮气烘干残留在晶片夹具表面的水珠。
但是由于喷淋过程会使得去离子水雾化并漂浮在空气中,使得后续需要较多次的氮气烘干工序循环操作才能烘干残留在晶片夹具表面的水珠,降低工作效率。
发明内容
本申请提供了一种晶片夹具清洗装置和清洗方法,可以解决相关技术中由于喷淋过程会使得去离子水雾化并漂浮在空气中,使得后续需要较多次的氮气烘干工序循环操作才能烘干残留在晶片夹具表面的水珠,降低工作效率的问题。
为了解决背景技术中所述的技术问题,本申请的第一方面提供一种晶片夹具清洗装置,所述晶片夹具清洗装置包括:
清洗腔,所述清洗腔连通上液装置和排液装置,所述上液装置用于将清洗液输送至所述清洗腔中,所述排液装置用于将所述清洗腔中的清洗液排出;
烘干腔,所述烘干腔位于所述清洗腔上部,且与所述清洗腔连通;
所述烘干腔中设有能够喷出烘干气体的烘干装置。
可选地,所述晶片夹具清洗装置用于清洗材质为聚四氟乙烯的晶片夹具。
可选地,所述烘干腔包括第一烘干腔和第二烘干腔;
所述第一烘干腔和所述第二烘干腔分别位于所述清洗腔上部的两侧,且分别与所述清洗腔连通;
所述第一烘干腔用于烘干所述晶片夹具的第一夹爪;
所述第二烘干腔用于烘干所述晶片夹具的第二夹爪。
可选地,所述第一烘干腔相对的两侧分别设有烘干装置;
所述第二烘干腔相对的两侧分别设有烘干装置。
可选地,所述烘干装置的烘干角度可调;
所述烘干装置包括旋转调整座和喷头;
所述旋转调整座安装在所述烘干腔的侧壁上;
所述喷头安装在所述旋转调整座上,通过旋转调整所述旋转调整座,使得所述喷头以特定方向向所述烘干腔中喷射烘干气体。
可选地,所述喷头喷射所述烘干气体的方向与水平面之间的夹角范围为2°至5°。
为了解决背景技术中所述的技术问题,本申请的第二方面提供一种晶片夹具清洗方法,使用如本申请第一方面所述的晶片夹具清洗装置对晶片夹具进行清洗,所述晶片夹具清洗方法包括以下步骤:
使得所述上液装置将清洗液输送至清洗腔中;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造