[发明专利]一种系统可靠性分析方法、装置、设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202210043006.1 申请日: 2022-01-14
公开(公告)号: CN114564796A 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 姚毓瑾;李琦;李卓然;张建东;刘亚东;于胜利;何勇;王丽娜;孙显洋;刘彦宏;党京 申请(专利权)人: 中铁工程设计咨询集团有限公司
主分类号: G06F30/17 分类号: G06F30/17;G06F30/20;G06F30/15
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 100055 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 系统 可靠性分析 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种系统可靠性分析方法,其特征在于,包括:

获取第一信息,所述第一信息包括继电器的形状参数、尺寸参数和位置参数,将所述第一信息带入第一模型计算得到所述继电器的可靠性参数,所述第一模型为计算所述继电器的可靠性参数的数学模型;

获取第二信息,所述第二信息包括系统中上位机的元器件的平均无故障时间和下位机的元器件的平均无故障时间,将所述第二信息输入第二模型,得到所述上位机的可靠性参数和所述下位机的可靠性参数,所述第二模型为计算所述上位机可靠性参数和所述下位机可靠性参数的数学模型;

获取系统中电源屏的可靠性参数,将所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数输入第三模型,所述第三模型为计算所述系统的可靠性参数的数学模型,得到所述系统的可靠性参数。

2.根据权利要求1所述的系统可靠性分析方法,其特征在于,所述获取系统中电源屏的可靠性参数,将所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数输入第三模型,所述第三模型为计算所述系统的可靠性参数的数学模型,得到所述系统的可靠性参数后,还包括:

获取所述系统的可靠性参数所需要达到的第一阈值,判断所述系统的可靠性参数是否达到第一阈值;

若所述系统的可靠性参数达到第一阈值,则发送第一命令,所述第一命令包括输出系统的可靠性参数,并显示所述系统的可靠性达到要求的命令;

若所述系统的可靠性参数低于第一阈值,则发送第二命令,所述第二命令包括输出系统的可靠性参数,并显示所述系统的可靠性低于要求的命令。

3.根据权利要求1所述的系统可靠性分析方法,其特征在于,所述获取第二信息,所述第二信息包括系统中上位机的元器件的平均无故障时间和下位机的元器件的平均无故障时间,将所述第二信息输入第二模型,得到所述上位机的可靠性参数和所述下位机的可靠性参数,所述第二模型为计算所述上位机可靠性参数和所述下位机可靠性参数的数学模型,包括:

获取第二信息,计算所述第二信息中上位机的元器件的平均无故障时间和下位机的元器件的平均无故障时间的倒数,得到第三信息,所述第三信息为所述上位机的失效率和所述下位机的失效率;

将所述第三信息按照上位机可靠性参数的计算公式计算得到所述上位机的可靠性参数,将所述第三信息中按照下位机可靠性参数的计算公式计算得到所述下位机的可靠性参数。

4.根据权利要求1所述的系统可靠性分析方法,其特征在于,所述获取系统中电源屏的可靠性参数,将所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数输入第三模型,所述第三模型为计算所述系统的可靠性参数的数学模型,得到所述系统的可靠性参数后,还包括:

将所述继电器可靠性参数、所述上位机可靠性参数、所述下位机可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数进行比较,获取可靠性最低的元器件信息;

将所述可靠性最低的元器件信息转化成二维码,将所述二维码发送到管理人员的接收设备。

5.根据权利要求1所述的系统可靠性分析方法,其特征在于,所述获取系统中电源屏的可靠性参数,将所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数输入第三模型,所述第三模型为计算所述系统的可靠性参数的数学模型,得到所述系统的可靠性参数后,还包括:

获取第二阈值,判断所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数是否均大于第二阈值,若所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数均大于第二阈值,则将系统结构的可靠性未达到要求的信息发送到管理人员的接收设备;

若所述继电器的可靠性参数、所述上位机的可靠性参数、所述下位机的可靠性参数和所述电源屏的可靠性参数有一个或多个低于第二阈值,则将可靠性参数低于第二阈值的元器件信息发送到管理人员的接收设备,并将所述元器件信息标注为红色。

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