[实用新型]一种半导体芯片测试用探针卡

权利要求书

1.一种半导体芯片测试用探针卡，包括设置在印刷电路板(1)上的探针基座(2)，以及设在探针基座(2)上的探针(4)，其特征在于，所述印刷电路板(1)的顶部设置有第一连接环(5)，且第一连接环(5)的顶部设置有第二连接环(6)，所述第二连接环(6)的顶部设置有保护罩(7)，所述印刷电路板(1)顶部的四角处皆设置有卡接机构(8)，所述印刷电路板(1)的侧边设置有与卡接机构(8)一一对应且对齐的驱动组件(3)。

2.根据权利要求1所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述卡接机构(8)包括与印刷电路板(1)顶部连接的套筒以及固定在保护罩(7)外部的固定块(10)，所述套筒的内部转动连接有转杆(9)，且转杆(9)的顶部设置有转钮(11)，所述转杆(9)的一侧设置有弧形板(12)，且弧形板(12)上设置有卡合组件(20)。

3.根据权利要求2所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述驱动组件(3)包括设置在印刷电路板(1)一侧的固定盒(13)以及开设在印刷电路板(1)内部的空腔(14)，所述空腔(14)与固定盒(13)之间通过通孔连通，所述固定盒(13)的内部设置有第一活塞(15)，且第一活塞(15)的顶部设置有贯穿至固定盒(13)顶部的按压块(19)。

4.根据权利要求3所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述空腔(14)的内部设置有第二活塞(16)，且第二活塞(16)的顶部设置有卡接块(17)，所述驱动组件(3)还包括设置在转杆(9)内底端的卡接槽(18)，所述卡接槽(18)与卡接块(17)相配合。

5.根据权利要求2所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述卡合组件(20)包括设置在固定块(10)一侧的开槽(21)以及设置在弧形板(12)上下两端的凹槽(22)，所述凹槽(22)的内部连接有弹片(23)，且弹片(23)的另一端设置有卡头(24)，所述凹槽(22)的上下两端皆开设有与卡头(24)相配合的卡槽(25)。

6.根据权利要求1所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述第一连接环(5)的底端与印刷电路板(1)的顶部通过粘合材料固定，所述第二连接环(6)的顶部与保护罩(7)的底部通过粘合材料固定。

7.根据权利要求4所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述卡接块(17)和卡接槽(18)的横截面皆为矩形结构。

8.根据权利要求4所述的半导体芯片测试用探针卡，其特征在于：所述卡接块(17)和卡接槽(18)的横截面皆为“米”字形结构。