[实用新型]一种半导体制冷晶粒自动分选机

说明书

本实用新型公开了一种半导体制冷晶粒自动分选机，具体涉及分选机技术领域，包括支撑框架，所述支撑框架的内部设置有主动滚轮和从动滚轮，所述主动滚轮与从动滚轮通过输送带传动连接，所述支撑框架的上方固定安装有多个固定架，且所述固定架靠近输送带处开设有检测通道，所述支撑框架的左侧设置有收集架，所述收集架位于输送带上方的顶部固定安装有吸料管，所述收集架的表面固定安装有合格收集箱和不合格收集箱。本实用新型通过输送带带动晶粒依次通过固定架开设的检测通道，从而便于对单一的晶粒逐次的多次的进行检测；通过气泵将检测到的外形或直径不合格的晶粒导入不合格收集箱，而合格的晶粒滑入合格收集箱，从而便于将晶粒进行分选。

技术领域

本实用新型涉及分选机技术领域，更具体地说，本实用新型涉及一种半导体制冷晶粒自动分选机。

背景技术

晶粒是组成多晶体的外形不规则的小晶体，而每个晶粒有时又有若干个位向稍有差异的亚晶粒所组成。晶粒的平均直径通常在0.015~0.25mm范围内，而亚晶粒的平均直径通常为0.001mm数量级。而常见的分选机是一种对产品进行重量分级筛选的设备。针对半导体制冷晶粒材料常用自动分选机进行筛分，而自动分选机是能够根据测量结果将被测件分成合格、正超差、负超差或将合格品再分成若干类，以便选择装配的自动化机器。

但是在实际使用时，由于晶粒外形差异较大且外形不规则，从而在半导体生产使用中不仅需要对晶粒直径进行检测，而且还需要对外形进行检测，而现有的自动分选机对晶粒的外形检测效果不佳，因此需要进一步的改进。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种半导体制冷晶粒自动分选机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括支撑框架，所述支撑框架顶部的内壁由左至右分别转动连接连接有一个主动轴和若干个从动轴，所述主动轴与从动轴的表面分别固定套接有主动滚轮和从动滚轮，所述主动滚轮与从动滚轮通过输送带传动连接，所述支撑框架的右侧设置有送料装置，且所述送料装置的顶部固定安装有送料管，且所述送料管的一端贴近输送带的上表面，所述支撑框架的上方固定安装有多个固定架，且所述固定架靠近输送带处开设有检测通道，所述检测通道的内壁设置有检测机构，所述支撑框架的左侧设置有收集架，所述收集架位于输送带上方的顶部固定安装有吸料管，所述收集架的表面固定安装有合格收集箱和不合格收集箱。

为了能够从三个角度对输送带上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果，所述检测机构包括固定安装在检测通道内壁的左视角检测器，俯视角检测器和右视角检测器。

为了能够利用动力电机提供输送带带动晶粒移动的动力，所述支撑框架的正面固定安装有动力电机，且所述动力电机的输出轴与主动轴固定连接。

为了能够增大吸料管吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒，所述吸料管靠近输送带的一端固定安装有吸料盘。

为了能够利用气泵将检测出不合格的晶粒吸入不合格收集箱，所述收集架的顶端固定安装有气泵，所述气泵的两端固定安装有吸料软管，且所述吸料软管的一端位于不合格收集箱内。

为了便于将检测合格的晶粒输送到合格收集箱，所述输送带的左侧位于合格收集箱的上方。

本实用新型的技术效果和优点：

1、与现有技术相比，通过设置输送带，能够带动晶粒依次通过固定架开设的检测通道，从而便于对单一的晶粒逐次的多次的进行检测；通过设置气泵，能够将检测到的外形或直径不合格的晶粒顺着吸料管和吸料软管导入不合格收集箱，而合格的晶粒顺着输送带滑入合格收集箱，从而便于将晶粒进行分选。

2、与现有技术相比，通过设置左视角检测器，俯视角检测器和右视角检测器，能够从三个角度对输送带上的晶粒进行观察检测，从而提高对晶粒外形的检测效果；通过设置吸料盘，能够增大吸料管吸料的范围，从而有助于吸入外形不合格的晶粒。