[实用新型]一种具有校准结构的半导体测试机有效
| 申请号： | 202122754912.6 | 申请日： | 2021-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN216209639U | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 王飞;王锟;鲁启永 | 申请（专利权）人： | 湖北福灿电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 武汉天领众智专利代理事务所(普通合伙) 42300 | 代理人： | 杨建军 |
| 地址： | 436000 湖北省鄂州市梧桐湖新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 具有 校准 结构 半导体 测试 | ||
1.一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：包括机箱(1)、校准组件(2)和抽拉带(4)，所述校准组件(2)包括栓接于机箱(1)表壁的基板(3)和设置于基板(3)下方的容置环(8)，所述基板(3)远离抽拉带(4)的一端安装有带柜(61)，所述带柜(61)通过带座(62)连接有折叠带(6)，所述容置环(8)的一外侧壁通过连接块(35)与折叠带(6)固定连接，所述容置环(8)的另一外侧壁通过连接块(35)与抽拉带(4)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述机箱(1)的内部开设有通槽(12)，所述通槽(12)的侧壁开设有弹簧槽(13)，所述弹簧槽(13)的内部设置有弹簧(7)，所述弹簧(7)远离弹簧槽(13)的一端与容置环(8)固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述基板(3)的侧方设置有卡板(31)，所述卡板(31)的表壁开设有卡槽(32)，所述抽拉带(4)的侧壁安装有卡块(33)，所述卡块(33)与卡槽(32)相适配。
4.根据权利要求3所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述卡块(33)的侧壁安装有抽拉杆(5)，所述抽拉杆(5)的端壁安装有杆柄(51)。
5.根据权利要求4所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述基板(3)的侧壁安装有带轨(41)，所述抽拉带(4)与带轨(41)滑动连接。
6.根据权利要求5所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述基板(3)的内部开设有滑槽(34)，所述容置环(8)与滑槽(34)相适配，所述机箱(1)的外侧铰接有门体(11)。
7.根据权利要求6所述的一种具有校准结构的半导体测试机，其特征在于：所述卡槽(32)靠近抽拉带(4)一端的尺寸大于靠近带柜(61)的尺寸。
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