[实用新型]一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置有效
申请号: | 202121845606.7 | 申请日: | 2021-08-09 |
公开(公告)号: | CN215491409U | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 张冬;李文勇;陈荣坤;马敬军 | 申请(专利权)人: | 河北天达晶阳半导体技术股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01C9/24;C30B29/36;C30B35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 054001 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 生长 籽晶 测量 装置 | ||
1.一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置,其特征在于:包括测量板、限位板、数显式测量滑套、锁紧螺栓、滑杆、卡接式滑套、固定螺栓、防滑把手、导向套;测量板的底部安装有限位板,测量板的外表面设置有刻度线层,测量板活动连接在数显式测量滑套上的测量槽内,且数显式测量滑套上安装有显示屏,数显式测量滑套的后端连接有锁紧螺栓,且锁紧螺栓的头部与数显式测量滑套的后侧壁相接触,数显式测量滑套的后端安装有导向套,滑杆活动连接在导向套的导向孔内,卡接式滑套上开设有调节槽,两个卡接式滑套通过调节槽活动连接在滑杆的两侧,卡接式滑套的上端连接有固定螺栓,固定螺栓的头部与滑杆相接触,卡接式滑套的下端开设有卡接槽体,滑杆的两端均安装有防滑把手。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置,其特征在于:所述数显式测量滑套的上端安装有提拉柄。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置,其特征在于:所述防滑把手的外侧壁上套接有防烫套,防烫套的外侧壁上开设有数个槽体,槽体内安装有防滑条。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置,其特征在于:所述限位板为圆形或矩形限位板。
5.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶生长炉用籽晶位测量装置,其特征在于:所述滑杆为矩形杆体。
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