[实用新型]一种半导体测试设备的手动升降设备

说明书

本实用新型涉及一种半导体测试设备的手动升降设备，属于半导体测试技术领域。本实用新型包括承载机构、升降机构和对接机构；承载机构包括水平设置的承载板以及用于支撑和固定承载板的支柱和缓冲轴；升降机构包括丝杆升降机和升降板；对接机构包括固定在升降板上面的四角的柔性弹簧和对接板，对接板固定放置在柔性弹簧上面。本实用新型结构简单，成本低廉，性价比高；占地面积小且节省面积；本实用新型通过设置缓冲轴，实现四个角的定位，且升降过程中会比较平稳丝滑顺畅；本实用新型通过回字形的承载板和升降板，进一步降低了设备整体的重量，让设备更加轻便。

技术领域

本实用新型涉及一种半导体测试设备的手动升降设备，属于半导体测试技术领域。

背景技术

半导体自动测试设备测试是对集成电路或芯片进行检测，旨在通过对比测量电路或芯片的输出和理论值，确定集成电路或芯片功能是否满足客户需求的过程。

测试方法为，自动测试设备自身输出接口与配套设设备的输入接口配合测试，由于配合对接测试的要求，半导体自动测试设备与配合的设备之间会有高度差。所以需要一种可以方便用户升降的装置变得非常有必要，目前现有的升降装置都是结构复杂且十分沉重，占地面积大且成本高昂，缺少更加轻便且方便的升降装置。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，针对现有技术不足，提出一种半导体测试设备的手动升降设备，可以实现设备整体轻便且方便组合，性价比高。

为了实现上述目的，本方面采用的技术方案为：一种半导体测试设备的手动升降设备，包括承载机构、升降机构和对接机构；所述承载机构包括水平设置的承载板以及用于支撑和固定所述承载板的支柱和缓冲轴，所述缓冲轴通过光轴轴承固定在所述承载板的四角，所述缓冲轴向上穿过所述承载板的一端设有光轴固定端；所述升降机构包括丝杆升降机和升降板，所述升降板通过所述光轴固定端设置在所述缓冲轴上；所述丝杆升降机有两个，两个所述丝杆升降机分别设置在所述承载板的两侧，所述丝杆升降机通过手摇轮驱动，所述丝杆升降机上下驱动并带动所述升降板的上下移动；所述对接机构包括固定在所述升降板上面的四角的柔性弹簧和对接板，所述对接板固定放置在所述柔性弹簧上面。

上述技术方案的进一步改进是：所述缓冲轴由空心轴和直线光轴组成，所述空心轴通过所述光轴轴承固定在所述承载板的四角。

上述技术方案的进一步改进是：所述两个丝杆升降机之间通过传导轴和光轴联轴器连接。

上述技术方案的进一步改进是：所述承载板和升降板为回字形板。

上述技术方案的进一步改进是：所述对接板的上平面设置有多个对接插口，所述对接插口连接不同型号的半导体测试设备。

上述技术方案的进一步改进是：所述直线光轴向上穿过所述承载板的一端设有固定光轴。

上述技术方案的进一步改进是：所述直线光轴穿透所述承载板和光轴轴承并插入所述空心轴内。

本实用新型带来的有益效果是：本实用新型结构简单，成本低廉，性价比高，占地面积小；本实用新型通过设置缓冲轴，实现四个角的定位，且升降过程中会比较平稳丝滑顺畅；本实用新型通过回字形的承载板和升降板，进一步降低了本实用新型整体的重量，让本实用新型更加轻便。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

图1是本实用新型实施例的结构示意图。

图2是图1拆解后的结构示意图。

图3是图2拆解后的结构示意图。

图4是本实用新型实施例的缓冲轴的结构示意图。