[发明专利]一种瓷砖表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202111613881.0 | 申请日: | 2021-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN114332004A | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
| 发明(设计)人: | 余松森;张明威;杨欢 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 广州骏思知识产权代理有限公司 44425 | 代理人: | 张金龙 |
| 地址: | 528225 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 瓷砖 表面 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取待检测的瓷砖图像;将所述瓷砖图像输入训练好的缺陷检测模型进行识别,得到所述瓷砖图像对应的缺陷检测结果;
其中,所述缺陷检测模型的训练步骤包括:
获取多张瓷砖图像;
对所述瓷砖图像进行扩充和标注,得到瓷砖图像数据集;
将所述瓷砖图像数据集划分为训练集、验证集和测试集;
将所述训练集输入所述缺陷检测模型,对所述缺陷检测模型进行训练;
使用所述验证集选择所述缺陷检测模型的参数,使用所述测试集检验不同参数对应的所述缺陷检测模型的性能,得到训练好的缺陷检测模型。
2.根据权利要求1所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于:
所述缺陷检测模型为经过改进的YOLOv5模型,包括Backbone部分、Neck部分和Detect部分;
所述Backbone部分用于提取输入图片的特征信息;
所述Neck部分用于实现模型中不同层级之间的信息交互;
所述Detect部分用于检测不同尺寸特征图的目标。
3.根据权利要求1所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于,所述缺陷检测模型的训练参数为:
image size设置为2400*2400,batch size为3,训练环境所使用的GPU为Nvidia RTX3090,操作系统为Ubuntu,版本为20.04,采用PyTorch深度学习框架搭建模型,版本号为1.9.0,CUDA版本为11.2,cuDNN版本8.0.5。
4.根据权利要求1所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述瓷砖图像进行标注,包括:
使用Labelme标注工具对图像进行标注,标注信息保存在json文件中,并使用python脚本将标注信息转换成YOLO数据集格式。
5.根据权利要求4所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于:
所述标注信息包括目标缺陷类型、目标缺陷位置、图片名称和图片信息;
所述目标缺陷类型包括斑点、白点、凹釉和磕碰。
6.根据权利要求1所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述瓷砖图像进行扩充,包括:
使用数据增强的方式对图片进行扩充;
增强方式包括图像对角翻转、调整图片亮度和图像对比度。
7.根据权利要求1所述的一种瓷砖表面缺陷检测方法,其特征在于,使用所述测试集检验不同参数对应的所述缺陷检测模型的性能,包括:
根据所述瓷砖图像对应的实际缺陷类型与预测缺陷类型,将样本分为TP、TN、FP和FN四类,其中,TP表示正样本预测正确的个数,TN表示负样本预测正确的个数,FP表示负样本预测错误的个数,FN表示正样本预测错误的个数;T表示预测结果正确,F表示预测结果错误,P表示预测结果为正样本,N表示预测结果为负样本;
通过如下公式计算所述缺陷检测模型的评价指标:
其中,precision为精确率,recall为召回率,mAP为所有类别的平均准确率;AP(c)表示类别c的平均准确率,N(classes)表示多目标分类任务中类别的个数。
8.一种瓷砖表面缺陷检测装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于获取待检测的瓷砖图像;
检测模块,用于将所述瓷砖图像输入训练好的缺陷检测模型进行识别,得到所述瓷砖图像对应的缺陷检测结果;
其中,所述缺陷检测模型的训练步骤包括:
获取多张瓷砖图像;
对所述瓷砖图像进行扩充和标注,得到瓷砖图像数据集;
将所述瓷砖图像数据集划分为训练集、验证集和测试集;
将所述训练集输入所述缺陷检测模型,对所述缺陷检测模型进行训练;
使用所述验证集选择所述缺陷检测模型的参数,使用所述测试集检验不同参数对应的所述缺陷检测模型的性能,得到训练好的缺陷检测模型。
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