[发明专利]一种芯片滤波器制作方法及系统

权利要求书

1.一种芯片滤波器制作方法，其特征在于，包括：

根据指标参数，结合一预设的数据分析模型得到滤波器元件值，所述指标参数包括中心频率、带宽、衰减量以及纹波特性；

根据一预设的微波仿真模型对电容电感实际值以及微带线实际值进行采集，得到微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值；

根据所述微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值，结合所述数据分析模型，得到电容电感的仿真结果；

采用所述数据分析模型将所述仿真结果与所述电容电感理论值进行比对，若所述仿真结果与所述电容电感理论值的误差符合标准条件，进而生成滤波器配置参数；

根据所述滤波器配置参数制作滤波器。

2.根据权利要求1所述的芯片滤波器制作方法，其特征在于，所述根据指标参数，结合一预设的数据分析模型得到滤波器元件值，包括：

将指标参数输入至所述数据分析模型；

所述数据分析模型输出滤波器所需的阶数及各个元器件的归一化取值；

根据所述指标参数以及所述归一化取值，结合比例变换和平移变换，换算得到所述滤波器元件值。

3.根据权利要求1所述的芯片滤波器制作方法，其特征在于，所述根据一预设的微波仿真模型得到微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值，包括：

调用所述微波仿真模型采集电容电感实际值以及微带线实际值；

结合所述微波仿真模型对电感的特征量进行参数化仿真，形成电容电感数据库；

采用所述数据分析模型对所述电容电感数据库进行容差分析，得到微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值。

4.根据权利要求1所述的芯片滤波器制作方法，其特征在于，所述根据所述微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值，结合所述数据分析模型，得到电容电感的仿真结果，包括：

根据所述微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值，结合所述数据分析模型，得到电容、电感及微带线理论值与实际数值的映射表；

根据所述电容、电感及微带线理论值与实际数值的映射表，结合所述微波仿真模型生成电容电感的仿真结果。

5.根据权利要求4所述的芯片滤波器制作方法，其特征在于，所述根据所述电容、电感及微带线理论值与实际数值的映射表，结合所述微波仿真模型生成所述仿真结果，包括：

根据所述数据分析模型以及所述电容电感理论值与实际值的差值，得到电容电感尺寸信息；

根据所述电容电感尺寸信息以及所述微波仿真模型得到所述电容电感的仿真结果。

6.一种芯片滤波器制作系统，其特征在于，包括：

元件值确认模块：根据指标参数，结合一预设的数据分析模型得到滤波器元件值，所述指标参数包括中心频率、带宽、衰减量以及纹波特性；

数据采集分析模块：根据一预设的微波仿真模型对电容电感实际值以及微带线实际值进行采集，得到微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值；

数据仿真模块：根据所述微带线实际值以及电容电感理论值与实际值的差值，结合所述数据分析模型，得到电容电感的仿真结果；

设计图确认模块：采用所述数据分析模型将所述仿真结果与所述电容电感理论值进行比对，若所述仿真结果与所述电容电感理论值的误差符合标准条件，进而生成滤波器配置参数；

滤波器制作模块：根据所述滤波器配置参数制作滤波器。

7.根据权利要求6所述的芯片滤波器制作系统，其特征在于，所述元件值确认模块包括：

指标输入单元：将指标参数输入至所述数据分析模型；

归一化取值输出单元：所述数据分析模型输出滤波器所需的阶数及各个元器件的归一化取值；

元件值确认单元：根据所述指标参数以及所述归一化取值，结合比例变换和平移变换，换算得到所述滤波器元件值。