[发明专利]用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本申请实施例提供一种用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备。方法包括：在待检测器件的器件图像中生成检测区域，可选地检测区域覆盖可选地器件图像中待检测器件的至少一个边界，并指示针对可选地待检测器件的高度扫描方向；在可选地检测区域所覆盖的器件图像中确定可选地待检测器件对应的像素；沿可选地高度扫描方向在可选地检测区域内对可选地器件图像进行扫描，根据可选地待检测器件对应的像素，得到可选地待检测器件的边界与预设基准面之间的间距距离；根据多次扫描确定的间距距离确定可选地待检测器件的器件高度。通过上述技术方案，能够方便快捷地计算出器件高度，能够适用于高通量的检测场景，能够适用于不同的检测对象。

技术领域

本申请涉及器件检测领域，具体涉及一种用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

通常，器件被生产制造出来后，可能会出现多种缺陷，例如器件的引脚表面可能会出现划伤、器件的壳体表面可能会出现裂痕等。因此，需要在出厂前对生产的器件进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件。器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。在很多生产测试场景中，对于器件检测的速率(通量)有较高的要求，并且需要在检测完成后立即进行良品和次品的分拣下料。这种情况下，则要求算法在很短的时间内完成对一个图像中器件高度的检测，以便在下料前就确定器件为良品和次品，从而在下料时将器件收纳到正确的料盒中。

虽然已有的图像处理算法有能力进行器件高度检测，但是这些已有算法往往需要提取边缘、拟合边界，存在计算量大、占用资源多、耗时长的问题，并不适用于要实时检测并在短时间内完成计算并输出结果的场景。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种用于检测器件高度的方法、装置、存储介质及电子设备。

为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种用于检测器件高度的方法，包括：

在待检测器件的器件图像中生成检测区域，检测区域覆盖器件图像中待检测器件的至少一个边界，并指示针对待检测器件的高度扫描方向；

在检测区域所覆盖的器件图像中确定待检测器件对应的像素；

沿高度扫描方向在检测区域内对器件图像进行扫描，根据待检测器件对应的像素，得到待检测器件的边界与预设基准面之间的间距距离；

根据多次扫描确定的间距距离确定待检测器件的器件高度。

可选地，沿高度扫描方向在检测区域内对器件图像进行扫描包括：确定预设的扫描方向与检测区域所指示的高度扫描方向是否一致；在确定预设的扫描方向与高度扫描方向不一致的情况下，旋转器件图像和检测区域，以使旋转后器件图像中器件的高度扫描方向与预设扫描方向一致。

可选地，在检测区域所覆盖的器件图像中确定待检测器件对应的像素包括：通过预设颜色阈值对检测区域所覆盖的图像区域进行阈值分割，以确定检测区域所覆盖的图像区域中待检测器件的像素，并对确定的待检测器件的像素标记预设值，其中，预设颜色阈值用于区分待检测器件的像素与背景图像的像素。

可选地，预设颜色阈值根据待检测器件与背景图像在至少一个颜色通道的颜色分量差异而设置。

可选地，在高度扫描方向的起始点位于预设基准面，且器件高度为器件间隙高度的情况下，沿高度扫描方向在检测区域内对器件图像进行扫描，根据待检测器件对应的像素，得到待检测器件的边界与预设基准面之间的间距距离包括：沿高度扫描方向对检测区域覆盖的器件图像进行扫描，将首次扫描到的被标记为预设值的像素点确定为待检测器件的下边界；将下边界与预设基准面之间的间距距离确定为待检测器件的间隙高度；并且，根据多次扫描得到的间距距离确定待检测器件的器件高度包括：根据多次扫描得到的间隙高度确定出待检测器件的器件高度。