[发明专利]一种倒装mini发光二极管芯片的制备方法在审

专利信息
申请号: 202111528404.4 申请日: 2021-12-15
公开(公告)号: CN114188455A 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 李文涛;简弘安;鲁洋;管楚云;张亚;胡加辉;金从龙 申请(专利权)人: 江西兆驰半导体有限公司
主分类号: H01L33/38 分类号: H01L33/38;H01L33/46;H01L33/62;H01L33/64;H01L33/14
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 熊明
地址: 330224 江西省南昌市南*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 倒装 mini 发光二极管 芯片 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

提供一衬底;

在所述衬底上制备外延层,所述外延层包括间隔设置的第一半导体层和第二半导体层,所述第一半导体层上刻蚀出导电台阶;

在第二半导体层上溅射电流扩展层;

制备绑定键合层,并使所述绑定键合层一端与所述导电台阶接触并直接电性连接、一端与所述电流扩展层接触并直接电性连接。

2.根据权利要求1所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,在第二半导体层上溅射电流扩展层之后还包括,采用含氟离子的气体对电流扩展层的ITO表面进行表面处理,使得ITO表面能够直接和绑定键合层的底层金属层直接形成欧姆接触,光刻形成图形后再利用ITO腐蚀液对电流扩展层进行腐蚀。

3.根据权利要求1所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,所述外延层包括在衬底上依次生长的缓冲层、第一半导体层、有源层和第二半导体层,对外延层表面进行图形化处理,并在外延层表面通过ICP刻蚀至第一半导体层,在第一半导体层上形成导电台阶。

4.根据权利要求1所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,在制备绑定键合层之前,还包括蒸镀布拉格反射层对外延层和电流扩展层进行包覆,并在布拉格反射层上刻蚀用于供绑定键合层穿过的导电通孔。

5.根据权利要求4所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,刻蚀的导电通孔包括N型导电通孔和P型导电通孔,在布拉格反射层上制备的绑定键合层包括N型键合层和P型键合层,所述N型键合层通过所述N型导电通孔与所述导电台阶接触并直接电性连接,所述P型键合层通过所述P型导电通孔与所述电流扩展层接触并电性连接。

6.根据权利要求4所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,在蒸镀布拉格反射层之后,还包括对所述布拉格反射层进行O2等离子体轰击,然后经过冲洗、热氮吹扫烘干、烘烤对布拉格反射层表面进行清洁。

7.根据权利要求3所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,在刻蚀出导电台阶之后,还包括采用含硅离子的气体对导电台阶表面进行处理,使得导电台阶表面能够直接和底层金属层形成欧姆接触。

8.根据权利要求1所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,制备得到的倒装mini发光二极管芯片包括

衬底;

外延层,所述外延层包括间隔设置的第一半导体层和第二半导体层,所述第一半导体层上设置有导电台阶;

电流扩展层,所述电流扩展层溅射在第二半导体层上;

绑定键合层,所述绑定键合层一端与所述导电台阶接触并直接电性连接、一端与所述电流扩展层接触并直接电性连接。

9.根据权利要求8所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,所述绑定键合层靠近所述导电台阶的一侧设置有底层金属层,所述底层金属层直接与导电台阶形成欧姆接触。

10.根据权利要求9所述的倒装mini发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,所述底层金属层为Cr或Al金属制成。

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