[发明专利]一种单面ALD方式制备新型PERC电池的方法在审

专利信息
申请号: 202111479428.5 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN114038945A 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 张鹏;陈天令;曹其伟;常青;谢耀辉 申请(专利权)人: 江西中弘晶能科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/0236
代理公司: 南昌合达信知识产权代理事务所(普通合伙) 36142 代理人: 毛毛
地址: 344000 江西省*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 单面 ald 方式 制备 新型 perc 电池 方法
【说明书】:

发明属于PERC电池技术领域,具体涉及一种单面ALD方式制备新型PERC电池的方法,包括如下步骤:在单面氧化铝薄膜沉积之前,通过臭氧氧化生成一层致密的氧化硅,再依次进行单面氧化铝沉积,氮化硅沉积,然后印刷金属背电场,形成新型PERC电池。本发明方法得到的PERC电池转换效率、可靠性均明显提升,生产成本显著降低。

技术领域

本发明属于晶硅太阳能电池生产制造技术领域,具体涉及一种单面ALD方式制备新型PERC电池的方法。

背景技术

目前光伏制造行业中,主流电池结构为PERC电池,生产PERC电池中多数厂家采用ALD式双面氧化铝工艺,PERC电池结构中,正面不需要氧化铝薄膜,但是由于ALD设备的局限性,不能实现单面沉积氧化铝薄膜。双面氧化铝结构在生产初期与PECVD式单面氧化铝电池转换效率对比并无明显差异,但是随着硅片质量提高,工艺不断优化,转换效率不断增加,目前已经显现出双面氧化铝的劣势。由于氧化铝薄膜的电负性属性,沉积在正表面会对正表面起“反”场作用,影响光生载流子在电池正面收集和正面钝化效果,进而导致开路电压和短路电流降低;同时正面的氧化铝薄膜致密性较好,会影响金属化电极与硅片形成良好的欧姆接触,导致串联电阻增加,填充因子降低。随着PERC电池工艺技术的不断优化、成熟,硅片质量不断提高,双面ALD式沉积氧化铝的弊端更日渐突出,双面氧化铝工艺的效率和良率均低于单面氧化铝工艺,在效率方面单面氧化铝的开路电压(Uoc)较双面氧化铝工艺高1~2mV,短路电流提升20~50mA,填充因子(FF)相对较高0.2~0.3,因此,综合分析单面氧化铝优势明显。虽然单面氧化铝效率优于双面氧化铝工艺,但单面氧化铝工艺还是存在一些缺陷,具体为:单面氧化铝钝化电池背表面,在钝化效果方面,场钝化效果较好,但是化学钝化不理想,单面氧化铝工艺还是没有实现PERC电池效率最大化。

发明内容

本发明目的在于克服现有技术的不足,提供一种单面ALD方式制备新型PERC电池的方法,弥补氧化铝化学钝化差的缺陷,增加PERC电池背表面的钝化效果,使PERC电池开路电压最大化,最终增加电池的转化效率。

为达到上述目的,本发明采用的技术方案如下:

一种单面ALD方式制备新型PERC电池的方法,包括如下步骤:在单面氧化铝薄膜沉积之前,通过臭氧氧化生成一层致密的氧化硅,再依次进行单面氧化铝沉积,氮化硅沉积,然后印刷金属背电场,形成新型PERC电池;

实现氧化铝叠加背面臭氧生成氧化硅层结构的方法有多种,包括热氧化方式、浓热硝酸氧化方式、LPCVD沉积方式、PECVD沉积方式、臭氧氧化方式等;

本发明中实现该结构的方式是采用臭氧氧化的方式,但是本发明的臭氧氧化是在自主升级的ALD设备中进行,通过在现有的ALD设备之中添加臭氧发生器和调节器进入炉管,管控温度、时间和流量实现氧化层生长。

优选地,臭氧氧化使用的臭氧流量为5~150sccm,氧化时间为1~10min,氧化温度为150~300℃。

优选地,氧化铝沉积采用臭氧作为氧源,沉积温度为150~300℃。

优选地,氮化硅沉积采用氮气作为氮源,沉积温度为150~300℃。

基于一个总的发明构思,本发明的另一个目的在于保护上述方法制备的新型PERC电池,从上到下依次包括减反射层、掺杂层、氧化硅层、氧化铝层、氮化硅层和铝背场,所述减反射层、掺杂层和氧化硅层上间隔地设有正面金属电极。

优选地,所述新型PERC电池为单面电池,所述氮化硅层的厚度为110~180nm。

优选地,从上到下依次包括减反射层、掺杂层、氧化硅层、氧化铝层、氮化硅层和铝栅线,所述减反射层、掺杂层和氧化硅层上间隔地设有正面金属电极。

优选地,所述新型PERC电池为双面电池,所述氮化硅层的厚度为85~105nm。

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