[发明专利]一种冲压件面品高点缺陷的检测方法、装置及测试机台在审
申请号: | 202111466737.9 | 申请日: | 2021-12-03 |
公开(公告)号: | CN114240858A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 姚士聪;郝玉林;龙袁;黎敏;曹建平;李学涛 | 申请(专利权)人: | 首钢集团有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G01B21/20;G01B21/08;G07C3/14 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 郭士超 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 冲压 件面品 高点 缺陷 检测 方法 装置 测试 机台 | ||
1.一种冲压件面品高点缺陷的检测方法,其特征在于,包括:
调整冲压件样品至目标状态,所述目标状态为水平放置状态;
对所述冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线;
通过对比扫描得到的轮廓曲线,确定所述冲压件样品的高点缺陷高度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线,包括:
控制表面轮廓仪对所述冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述冲压件样品的尺寸大于或等于100×100毫米,所述表面轮廓仪的取样行程长度范围为15-50毫米,取样截止长度范围为0.08-10毫米,测量速度范围为0.05-2毫米每秒。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过对比扫描得到的轮廓曲线,确定所述冲压件样品的高点缺陷高度,包括:
确定每条轮廓曲线的凸起最高位置,以及每条轮廓曲线的基准线;
获取所述每条轮廓曲线的凸出最高位置与对应基准线之间的高度差;
对比各轮廓曲线对应的所述高度差,将最大高度差作为所述冲压件样品的高点缺陷高度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,确定每条轮廓曲线的基准线,包括:
选择每条轮廓曲线中的水平线,将所述水平线作为对应轮廓曲线的基准线。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线,包括:
对位于初始位置的冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线;
控制所述冲压件样品绕目标轴旋转预设角度,所述目标轴垂直于冲压件样品的面品;
扫描旋转后的冲压件样品的轮廓曲线,得到多条轮廓曲线。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预设角度为90度。
8.一种冲压件面品高点缺陷的检测装置,其特征在于,包括:
调整模块,用于调整冲压件样品至目标状态,所述目标状态为水平放置状态;
扫描模块,用于对所述冲压件样品进行轮廓扫描,得到多条轮廓曲线;
确定模块,用于通过对比扫描得到的轮廓曲线,确定所述冲压件样品的高点缺陷高度。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述确定模块包括:
确定子模块,用于确定每条轮廓曲线的凸起最高位置,以及每条轮廓曲线的基准线;
测量子模块,用于获取所述每条轮廓曲线的凸出最高位置与对应基准线之间的高度差;
对比子模块,用于对比各轮廓曲线对应的所述高度差,将最大高度差作为所述冲压件样品的高点缺陷高度。
10.一种测试机台,其特征在于,包括:存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-7中任一项所述方法的步骤。
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