[发明专利]一种半导体芯片数字测试卡

权利要求书

1.一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，包括：

该板卡一共由一块主板，2块DIO子板(每块DIO子板有64个DIO信号)和一块PPMU子板(一块PPMU子板由16个源组成)构成，其中一共有3片intel的CY10 FPGA，2片FPGA负责2块DIO子板的控制，产生DI/DO信号，对待测芯片进行数字通道测试；一片FPGA负责一块PPMU子板的控制，对待测芯片进行开短路测试，输出一共有128路信号，一共使用256个输出光耦继电器和内部进行隔离控制，其中，128个继电器用于将输出的128个信号切换到二块DIO子板上面；剩余的128个继电器用于将输出的128个信号切换到PPMU子板上面，由于PPMU一共只有16路源，因此，该128路信号，平均每8路信号共用一路PPMU的源信号；

DIO数字系统一共128个通道，对于每个通道(Ch n),功能都是类似的，都如图1.其中，DRE代表数据方向，0表示输出驱动，1表示输入数据比较；PAT(pattern data)代表发送的数据；VIH和VIL代表电平设置；DCLP/DCLM代表钳位电压设置；VOH/VOL是数据输入时候的比较电平设置；每个pin脚的数据的输入输出和PPMU功能通过高速光耦来进行切换，I2C接口和SPI接口功能与IO口在FPGA内部复用；I2C的最高速率可以到2Mbps,SPI的速率可以到50Mbps。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，所述128路DIO接口，每路均可以设置输出电平，比较电平，高祖状态，128路DIO接口采用E818AFH接口芯片实现，最高工作速率50MHz。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，所述16路PPMU模块，4挡位电流源，50MHz速率，I2C、SPI接口输出与DIO接口输出在FPGA内部复用，I2C和SPI的速率可以上位机选择，I2C最高速率2Mbps,SPI最高速率50Mbps。

4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，所述集成IIC和SPI功能，上位机可以直接编程控制，PPMU----16路源电路，用于测量开短路等参数。

5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，电压范围为±5V,精度0.05％，电流范围为±20uA/200uA/2mA/20mA,共四个挡位，精度0.2％。

6.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，所述集成数据比较功能，可以在FPGA内部完成测试数据的分析。

7.根据权利要求1所述的一种半导体芯片数字测试卡，其特征在于，datamemory用于存储驱动或比较数据，值0表示低电平，值1表示高电平；dirmemory用于指示数据流方向，值0表示驱动，值1表示比较；enmemory用于指示数据是否有效，值0表示无效，值1表示有效。