[发明专利]一种碳化硅晶圆加工工艺在审
申请号: | 202111162163.6 | 申请日: | 2021-09-30 |
公开(公告)号: | CN113903656A | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 严立巍;符德荣;陈政勋;文锺 | 申请(专利权)人: | 浙江同芯祺科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/683 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 李晓峰 |
地址: | 312000 浙江省绍兴市越*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 加工 工艺 | ||
1.一种碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,包括以下步骤:
S1、在硅载板表面通过CVD沉积SiO2层,然后将碳化硅基板背面与硅载板键合,利用SiO2使碳化硅基板与硅载板形成永久性键合,;
S2、完成碳化硅基板的减薄,同时完成除高温制程外的其他晶圆正面制程;
S3、将完成正面晶圆制程的碳化硅基板转移到石墨托盘上,然后将石墨托盘放入蚀池中蚀刻SiO2层,解除碳化硅基板与硅载板的永久键合,移除硅载板后将碳化硅基板冲洗干净;
S4、利用石墨托盘承载碳化硅基板进行高温制程;
S5、将完成高温制程的碳化硅基板取出,碳化硅基板背面涂布黏着剂并键合玻璃载板,移除石墨托盘;
S6、于碳化硅基板正面背面涂布黏着剂并键合玻璃载板,利用激光穿透碳化硅基板背面玻璃载板使释放剂分解,使碳化硅基板背面玻璃载板解键合,移除碳化硅基板背面玻璃载板;
S7、完成碳化硅基板背面晶圆制程;
S8、将碳化硅基板转移到切割模框上,利用激光穿透碳化硅基板正面玻璃载板使释放剂分解,使碳化硅基板正面玻璃载板解键合,移除碳化硅基板正面玻璃载板,完成晶圆的切割。
2.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S1中一次性将多块碳化硅基板与硅载板键合,具体步骤为:
S101、将硅载板和碳化硅基板清洗干净,通过电浆对硅基载板表面处理,激发硅基载板原子活性键;
S102、将碳化硅基板水平排列键合在硅基载板表面;
S103、将放置好碳化硅基板的硅载板放入高温炉管中进行高温回火,使碳化硅基板与硅基载板形成永久键合结构。
3.根据权利要求2所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S103中高温回火的温度为800-1400℃,高温炉管的升温速率小于15℃/min。
4.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S3中石墨托盘表面对应碳化硅基板处开设有凹槽,所述凹槽大小与碳化硅基板尺寸契合。
5.根据权利要求1所述的碳化硅晶圆加工工艺,其特征在于,所述步骤S3中利用蚀刻液对SiO2和Si的蚀刻选择比不同,蚀刻除去SiO2层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造