[发明专利]一种基于离子栅MoS2有效

专利信息
申请号: 202111088535.5 申请日: 2021-09-16
公开(公告)号: CN113871472B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 杨玉超;刘昌;袁锐;黄如 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L29/10;H01L29/06;G11C16/04
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 李稚婷
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 离子 mos base sub
【权利要求书】:

1.一种基于离子栅MoS2晶体管的不平衡三值逻辑门的实现方法,所述离子栅MoS2晶体管包括沟道层、源极、漏极、栅极和栅介质层,所述沟道层为MoS2二维材料,源极和漏极位于沟道层两端并与沟道层连接;栅极位于沟道层的侧边,与沟道层不直接接触;栅介质层覆盖在栅极和源漏之间的沟道层上方,所述栅介质层为聚合物电解质;利用正脉冲引起的所述离子栅MoS2晶体管的源漏电流值差异实现不平衡三值逻辑门,其中:

对于单个栅门调控的方式,通过向栅极施加三个不同幅度的电压,测量出三个不同大小的源漏电流值,然后将其与参考电流值比较,实现标准三值反相器、正三值反相器和负三值反相器;

对于栅门和漏门组合调控的方式,通过向栅极和漏极分别施加三个不同幅度的电压组合,测量出九个不同幅度的源漏电流值,然后与参考电流值比较,实现三值与门、三值与非门、三值或门、三值或非门、三值异或门和三值异或非门逻辑。

2.如权利要求1所述的实现方法,其特征在于,对所述离子栅MoS2晶体管进行单个栅门调控,在漏极上施加恒定的电压脉冲,输入为施加到栅极上的电压脉冲信号V0,输出是源漏电流值Ids;在栅极施加三个不同幅度的电压脉冲信号V00、V01和V02,其中V00V01V02,分别对应于输入的逻辑信号0、1和2,则输出三个不同幅度的源漏电流值Ids1、Ids2和Ids3,Ids1Ids2Ids3;如下实现正三值反相器(PTI):设定参考电流I2,且Ids2I2Ids3;在栅极上施加V00和V01时,产生的源漏电压值小于I2,认定输出为“2”;在栅极上施加V02时,产生的源漏电压值大于I2,认定输出为“0”。

3.如权利要求1所述的实现方法,其特征在于,对所述离子栅MoS2晶体管进行单个栅门调控,在漏极上施加恒定的电压脉冲,输入为施加到栅极上的电压脉冲信号V0,输出是源漏电流值Ids;在栅极施加三个不同幅度的电压脉冲信号V00、V01和V02,其中V00V01V02,分别对应于输入的逻辑信号0、1和2,则输出三个不同幅度的源漏电流值Ids1、Ids2和Ids3,Ids1Ids2Ids3;如下实现负三值反相器(NTI):设定参考电流I1,且Ids1I1Ids2;在栅极上施加V01和V02时,产生的源漏电压值大于I1,认定输出为“0”;在栅极上施加V00时,产生的源漏电流值小于I1,认定输出为“2”。

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