[发明专利]电子装置

说明书

本发明提供了一种电子装置，其包括一基板、一电子单元、一数据线、一控制单元、一测试垫以及一测试开关元件。所述基板包括一第一表面和相对于所述第一表面的一第二表面，其中所述第一表面包括一主动区。所述电子单元设置在所述基板上且位于所述主动区内。所述数据线设置在所述基板上。所述控制单元设置在所述基板上且位于所述主动区内，所述控制单元电连接于所述电子单元与所述数据线之间。所述测试垫设置在所述基板的所述第二表面上。所述测试开关元件设置在所述基板上且位于所述主动区内，所述测试开关元件电连接于所述数据线与所述测试垫之间。

技术领域

本发明涉及一种电子装置，特别是涉及一种具有测试开关元件的电子装置。

背景技术

在发光装置的制造过程中通常会利用测试元件来测试发光装置上的发光元件(例如发光二极管)是否损坏，进而替换掉无法作用的发光元件。在传统的发光装置中，测试元件为设置在发光装置的周边区或非显示区。然而，设置在发光装置的非显示区的测试元件会导致装置的屏占比下降，进而影响发光装置的显示效果。因此，如何改善发光装置的测试元件的配置对于本领域来说仍是一项重要的议题。

发明内容

在一些实施例中，本发明提供了一种电子装置。电子装置包括一基板、一电子单元、一数据线、一控制单元、一测试垫以及一测试开关元件。基板包括一第一表面和相对于第一表面的一第二表面，其中第一表面包括一主动区。电子单元设置在基板上且位于主动区内。数据线设置在基板上。控制单元设置在基板上且位于主动区内，控制单元电连接于电子单元与数据线之间。测试垫设置在基板的第二表面上。测试开关元件设置在基板上且位于主动区内，测试开关元件电连接于数据线与测试垫之间。

附图说明

图1为本发明第一实施例的电子装置的俯视示意图。

图2为本发明第一实施例的电子装置的底视示意图。

图3到图4为本发明第一实施例的电子装置的测试开关元件的配置示意图。

图5为本发明第一实施例的电子装置的电路示意图。

图6到图7为本发明第二实施例的电子装置的测试开关元件的配置示意图。

图8为本发明第二实施例的电子装置的电路示意图。

图9为本发明第三实施例的电子装置的功能方块图。

图10为本发明第三实施例的电子装置的电路示意图。

附图标记说明：100-发光装置；BA1、BA2-接合区域；BP-接合垫；CP-电容元件；CU、CU1、CU2、CU3-控制单元；DA-主动区；DE、DR-汲极；DL、DL1、DL2、DL3-数据线；DR1-第一方向；DR2-第二方向；DRU-驱动单元；ED-电子装置；EU-电子单元；FS-第一表面；GE、GA-闸极；LEU-发光单元；LEU1-第一发光单元；LEU2-第二发光单元；LEU3-第三发光单元；PA-阵列；PC-像素列；PC1-第一像素列；PC2-第二像素列；PC3-第三像素列；PE-防静电元件；PL-电源线；PR-像素行；PR1-第一像素行；PR2-第二像素行；PR3-第三像素行；PU、PU1、PU2、PU3、PU4、PU5、PU6、PU7、PU8、PU9-像素区；RS-第二表面；SB-基板；SE、SO-源极；SL-扫描线；SPU1-第一子像素区；SPU2-第二子像素区；SPU3-第三子像素区；SS-侧面；SW-开关控制单元；TL、Q1、QV、Q2、Q3-测试信号线；TP-测试垫；TU、TU1、TU2、TU3-测试开关元件；TUa-第一测试开关元件；TUb-第二测试开关元件；TUc-第三测试开关元件。

具体实施方式

通过参考以下的详细描述并同时结合附图可以理解本发明，须注意的是，为了使读者能容易了解及为了附图的简洁，本发明中的多张附图只绘出电子装置的一部分，且附图中的特定元件并非依照实际比例绘图。此外，图中各元件的数量及尺寸仅作为示意，并非用来限制本发明的范围。