[发明专利]一种雷达标定方法、装置、电子设备和介质在审
申请号: | 202111056632.6 | 申请日: | 2021-09-09 |
公开(公告)号: | CN113687336A | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 刘鹤云 | 申请(专利权)人: | 北京斯年智驾科技有限公司 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人: | 葛婷婕 |
地址: | 102600 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 雷达 标定 方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种雷达标定方法,其特征在于,包括:
获取第一外参信息、雷达点云信息和地图点云信息;
根据所述雷达点云信息和所述地图点云信息,获得第二外参信息;
根据自适应卡尔曼滤波算法对所述第一外参信息和所述第二外参信息进行处理,获得目标外参信息。
2.根据权利要求1所述的雷达标定方法,其特征在于,所述根据所述雷达点云信息和所述地图点云信息,获得第二外参信息,包括:
根据所述雷达点云信息,获得多个第一线特征信息;
根据所述地图点云信息,获得多个第二线特征信息;
对所述多个第一线特征信息和所述多个第二线特征信息进行相似度匹配,获得多个线特征相似对;
根据所述多个线特征相似对,获得所述第二外参信息。
3.根据权利要求2所述的雷达标定方法,其特征在于,所述根据所述雷达点云信息,获得多个第一线特征信息,包括:
根据第一过滤条件对所述雷达点云信息进行过滤,获得过滤后的雷达点云信息;
根据过滤后的雷达点云信息,获得多个第一拟合平面;
根据所述多个第一拟合平面,获得所述多个第一线特征信息,所述第一线特征信息包括相邻的两个第一拟合平面的相交直线;
所述根据所述地图点云信息,获得多个第二线特征信息,包括:
根据第二过滤条件对所述地图点云信息进行过滤,获得过滤后的地图点云信息;
根据过滤后的地图点云信息,获得多个第二拟合平面;
根据所述多个第二拟合平面,获得所述多个第二线特征信息,所述第二线特征信息包括相邻的两个第二拟合平面的相交直线。
4.根据权利要求3所述的雷达标定方法,其特征在于,所述雷达点云信息包括多个雷达数据点;位于所述第一拟合平面内的雷达数据点的数量大于或等于第一数量阈值;
所述地图点云信息包括多个地图数据点;位于所述第二拟合平面内的地图数据点的数量大于或等于第二数量阈值。
5.根据权利要求2所述的雷达标定方法,其特征在于,所述根据所述多个线特征相似对,获得所述第二外参信息,包括:
根据所述多个线特征相似对,获得与所述多个线特征相似对一一对应的多个备选外参信息;
对所述多个备选外参信息进行均值估计,获得所述第二外参信息。
6.一种雷达标定装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取第一外参信息、雷达点云信息和地图点云信息;
第二获取模块,用于根据所述雷达点云信息和所述地图点云信息,获得第二外参信息;
标定模块,用于根据自适应卡尔曼滤波算法对所述第一外参信息和所述第二外参信息进行处理,获得目标外参信息。
7.根据权利要求6所述的雷达标定装置,其特征在于,所述第二获取模块包括:
第一获取单元,用于根据所述雷达点云信息,获得多个第一线特征信息;
第二获取单元,用于根据所述地图点云信息,获得多个第二线特征信息;
匹配单元,用于对所述多个第一线特征信息和所述多个第二线特征信息进行相似度匹配,获得多个线特征相似对;
第三获取单元,用于根据所述多个线特征相似对,获得所述第二外参信息。
8.根据权利要求7所述的雷达标定装置,其特征在于,所述第一获取单元包括:
根据第一过滤条件对所述雷达点云信息进行过滤,获得过滤后的雷达点云信息;
根据过滤后的雷达点云信息,获得多个第一拟合平面;
根据所述多个第一拟合平面,获得所述多个第一线特征信息,所述第一线特征信息包括相邻的两个第一拟合平面的相交直线;
所述第二获取单元包括:
根据第二过滤条件对所述地图点云信息进行过滤,获得过滤后的地图点云信息;
根据过滤后的地图点云信息,获得多个第二拟合平面;
根据所述多个第二拟合平面,获得所述多个第二线特征信息,所述第二线特征信息包括相邻的两个第二拟合平面的相交直线。
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