[发明专利]用于标记和检测缺陷的方法、设备、存储介质和程序产品

权利要求书

1.一种训练模型的方法，包括：

确定针对对象的样本图像中的第一区域，所述样本图像包括所述对象的缺陷，并且所述第一区域至少部分地包围所述对象的缺陷；

基于所述第一区域，标识所述样本图像中的第二区域，所述第二区域与所述缺陷的一个或多个属性相关联；以及

至少基于所述样本图像和所述第二区域，训练缺陷检测模型，以用于从待检测图像中检测潜在缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述缺陷的所述一个或多个属性包括以下至少一项：

所述缺陷在所述样本图像中的位置；或

所述缺陷的类型。

3.根据权利要求1所述的方法，其中基于所述第一区域标识所述第二区域包括：

基于所述第一区域，从所述样本图像中定位所述缺陷；

基于所述缺陷的形状，确定针对所述第二区域的边界；以及

利用所述边界，标识所述第二区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一区域和所述第二区域至少部分地重合。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：

确定所述样本图像是否包括不同于所述缺陷的另一缺陷；

如果确定所述样本图像包括所述另一缺陷，确定所述样本图像中的第三区域，所述第三区域至少部分地包围所述对象的所述另一缺陷；以及

基于所述第三区域，标识所述样本图像中与所述另一缺陷的一个或多个属性相关联的第四区域，以用于训练所述缺陷检测模型。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中在所述缺陷检测模型的训练中，所述第二区域被赋予大于非重合区域的权重，所述非重合区域包括所述第一区域内与所述第二区域不重合的部分。

7.一种检测缺陷的方法，包括：

获取待检测图像，所述待检测图像中的对象包括缺陷；以及

利用缺陷检测模型，确定与所述缺陷有关的信息，所述缺陷检测模型根据权利要求1-6中的任一项所述的方法被训练。

8.一种电子设备，包括：

处理器；以及

与所述处理器耦合的存储器，所述存储器具有存储于其中的指令，所述指令在被处理器执行时使所述设备执行动作，所述动作包括：

确定针对对象的样本图像中的第一区域，所述样本图像包括所述对象的缺陷，并且所述第一区域至少部分地包围所述对象的缺陷；

基于所述第一区域，标识所述样本图像中的第二区域，所述第二区域与所述缺陷的一个或多个属性相关联；以及

至少基于所述样本图像和所述第二区域，训练缺陷检测模型，以用于从待检测图像中检测潜在缺陷。

9.一种电子设备，包括：

处理器；以及

与所述处理器耦合的存储器，所述存储器具有存储于其中的指令，所述指令在被处理器执行时使所述设备执行动作，所述动作包括：

获得待检测图像，所述待检测图像中的对象具有缺陷；以及

利用根据权利要求1-6中的任一项所述的方法训练的缺陷检测模型，确定与所述缺陷有关的信息。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现根据权利要求7中所述的方法。