[发明专利]一种表面缺陷检测方法、装置及设备在审
申请号: | 202111035814.5 | 申请日: | 2021-09-03 |
公开(公告)号: | CN113781424A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 段闪;姚毅;杨艺;戴志强 | 申请(专利权)人: | 苏州凌云光工业智能技术有限公司;苏州凌云视界智能设备有限责任公司;凌云光技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G01N21/88;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 郭德霞 |
地址: | 215100 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 表面 缺陷 检测 方法 装置 设备 | ||
1.一种表面缺陷检测方法,其特征在于,包括:
获取待检测表面的表面特征和所述待检测表面的深度数据;
根据所述待检测表面的深度数据,生成所述待检测表面的原始深度图像;
基于所述待检测表面的表面特征,对所述原始深度图像进行滤波,以确定所述待检测表面的参考深度图像;
根据所述参考深度图像与所述原始深度图像,确定所述待检测表面的差分深度图像;
根据所述差分深度图像,确定所述待检测表面的缺陷区域特征。
2.根据权利要求1所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,所述待检测表面的表面特征包括表面形变参数;
基于所述待检测表面的表面特征,对所述原始深度图像进行滤波,以确定所述待检测表面的参考深度图像,包括:
当所述表面形变参数在第一预设形变参数范围内时,基于移动平均滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波,以确定所述待检测表面的参考深度图像;
当所述表面形变参数在第二预设形变参数范围内时,基于均值滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波,以确定所述待检测表面的参考深度图像;
当所述表面形变参数在第三预设形变参数范围内时,基于高斯滤波的方式对所述原始深度图像进行滤波,以确定所述待检测表面的参考深度图像;
其中,所述第一预设形变参数范围内的形变参数小于所述第二预设形变参数范围内的形变参数,以及所述第二预设形变参数范围内的形变参数小于所述第三预设形变参数范围内的形变参数。
3.根据权利要求1所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,根据所述参考深度图像与所述原始深度图像,确定所述待检测表面的差分深度图像,包括:
获取所述参考深度图像中各个位置处的参考深度值,以及所述原始深度图像中各个位置处的原始深度值;
一一对应地计算各个位置处的所述参考深度值与所述原始深度值之间的差值作为差分深度值;
根据各个位置处的所述差分深度值,确定所述待检测表面的差分深度图像。
4.根据权利要求3所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,根据各个位置处的所述差分深度值,确定所述待检测表面的差分深度图像,包括:
将各个位置处的所述差分深度值的绝对值与预设深度阈值进行比较;
将绝对值小于所述预设深度阈值的所述差分深度值对应的位置的深度数据确定为所述待检测表面的零平面的深度数据,以及将绝对值不小于所述预设深度阈值的所述差分深度值对应的位置的深度数据确定为该位置对应的原始深度数据。
5.根据权利要求1所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,根据所述差分深度图像,确定所述待检测表面的缺陷区域特征,包括:
将所述差分深度图像的深度数据转换为点云数据;
对所述点云数据进行连通域分割,生成与不同所述连通域对应的点云数据集;
将不同连通域对应的点云数据集与缺陷特征阈值进行比较,确定所述待检测表面的缺陷区域特征。
6.根据权利要求5所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述点云数据进行连通域分割,包括:
基于邻域距离判定方法,对所述点云数据进行连通域分割。
7.根据权利要求5所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,将不同连通域对应的点云数据集与缺陷特征阈值进行比较,确定所述待检测表面的缺陷区域特征,包括:
将点云数据集中点云数据与所述缺陷特征阈值相匹配的所述连通域确定改为缺陷连通域;
根据所述缺陷连通域对应的点云数据集中各点云数据,确定所述待检测表面的缺陷区域边界;
根据所述缺陷区域边界,对所述原始深度图像进行标记,以确定所述待检测表面的缺陷区域特征。
8.根据权利要求1所述的表面缺陷检测方法,其特征在于,根据所述待检测表面的深度数据,生成所述待检测表面的原始深度图像,还包括:
对所述待检测表面的深度数据进行归一化处理,确定归一化的深度数据;
根据所述归一化的深度数据,生成所述待检测表面的原始深度图像。
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