[发明专利]一种相机的平场标定方法、装置及平场标定系统在审

专利信息
申请号: 202111014527.6 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN113870355A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 王利文 申请(专利权)人: 卡莱特云科技股份有限公司
主分类号: G06T7/80 分类号: G06T7/80
代理公司: 深圳国海智峰知识产权代理事务所(普通合伙) 44489 代理人: 王庆海;刘军锋
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 相机 标定 方法 装置 系统
【说明书】:

发明涉及LED显示屏校正技术领域,具体公开了一种相机的平场标定方法、装置及平场标定系统,方法包括获取暗场照片;根据预设的暗场标定图片生成策略以及暗场照片,生成暗场标定图片;获取明场照片;按照预设的平场系数计算策略以及明场照片,生成平场系数;通过预设的像素值映射策略以及平场系数,映射得出平场标定图片;通过暗场标定图片、平场标定图片以及预设的图像校正策略对原始图像进行校正,得出校正图像等步骤。本发明的相机的平场标定方法、装置及平场标定系统,解决了当前因探测器响应非均匀性对相机校正的效果影响,进而保证相机在校正过程中的校正效果,当LED显示屏显示校正图像时呈现出更佳的显示效果。

技术领域

本发明涉及LED显示屏校正技术领域,尤其涉及一种相机的平场标定方法、装置及平场标定系统。

背景技术

在理想情况下,当相机各像元接收到的辐照度相等即探测器整个靶面辐照均匀时,得到图像中所有像素点的灰度值应该是相等的,而实际上对任意CCD和CMOS相机而言,各像素对相同的辐照度产生的灰度值并不相同,这称为探测器的响应非均匀性。导致响应非均匀性的原因包括有:(1)相机的CCD或CMOS芯片本身的结构材料和制造工艺具有局部差异性;(2)各像元的光谱响应函数不同;(3)读出噪声和暗电流噪声的差异性等。

因此在使用工业相机校正屏幕前,现有技术针对特定的相机和镜头组合进行平场标定,以解决上述非均匀性的问题。

发明内容

针对现有技术中的技术问题,本发明提供一种相机的平场标定方法、装置及平场标定系统。

本发明包括一种相机的平场标定方法,包括:

获取相机在暗场环境下拍摄的N张暗场照片;

根据预设的暗场标定图片生成策略以及暗场照片,生成暗场标定图片;

获取相机在明场环境下拍摄的M张明场照片;

按照预设的平场系数计算策略以及明场照片,生成平场系数;

通过预设的像素值映射策略以及平场系数,映射得出平场标定图片;

通过暗场标定图片、平场标定图片以及预设的图像校正策略对原始图像进行校正,得出校正图像。

进一步的,根据预设的暗场标定图片生成策略以及暗场照片,生成暗场标定图片,包括:

计算N张暗场照片中相同位置像素点的第一像素值之和;每个暗场照片包含有n个像素点;

通过第一像素值之和以及暗场照片的数量N,计算n个像素点中每个像素点的第一像素平均值;

通过第一像素平均值生成具有n个像素点的暗场标定图片。

进一步的,按照预设的平场系数计算策略以及明场照片,生成平场系数,包括:

计算M张明场照片中相同位置像素点的第二像素值之和;每个明场照片包含有n个像素点;

通过第二像素值之和以及明场照片的数M,计算n个像素点中每个像素点的第二像素平均值;

对所有明场照片的像素点的像素值求和得出第三像素值之和;

根据第三像素值之和以及明场照片的张数M、每个明场照片包含的像素点数n,计算第三像素平均值;

计算n个像素点的平场系数,其中,第i个像素点的平场系数等于第i个像素点的第二像素平均值与第三像素平均值的商。

进一步的,通过预设的像素值映射策略以及平场系数,映射得出平场标定图片,包括:

根据平场系数中的最大值确定映射分母;映射分母为最接近平场系数的最大值的整数,且映射分母不小于平场系数的最大值;

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