[发明专利]一种图像缺陷检测方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202110892391.2 | 申请日: | 2021-08-04 |
公开(公告)号: | CN113592830A | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 龚晨;毛翔宇;刘洋;王维佳;张志达;蔡书成 | 申请(专利权)人: | 航天信息股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 100093 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种图像缺陷检测方法,其特征在于,包括:
获取无缺陷证件图像数据,将所述无缺陷证件图像数据作为样本数据;
根据所述样本数据,确定图像重构模型;
将待检测图像输入到所述图像重构模型中,以确定所述待检测图像的修复图像;
计算所述修复图像与所述待检测图像的残差图像;
根据所述残差图像确定对所述待检测图像的缺陷检测结果。
2.根据权利要求1所述的图像缺陷检测方法,其特征在于,根据所述残差图像确定对所述待检测图像的缺陷检测结果,包括:
根据预设的像素差异阈值,对所述残差图像上的缺陷位置进行定位;
根据所述定位的结果,确定所述缺陷检测结果。
3.根据权利要求2所述的图像缺陷检测方法,其特征在于,对所述残差图像上缺陷位置进行定位之前还包括:对所述残差图像进行降噪处理,获得所述残差图像的平滑图像;
所述根据预设的像素差异阈值,对所述残差图像上的缺陷位置进行定位,包括:根据预设的像素差异阈值,对所述平滑图像上的缺陷位置进行定位。
4.根据权利要求1所述图像缺陷检测方法,其特征在于,根据所述样本数据,确定图像重构模型,包括:
将所述样本数据中的至少一张无缺陷样本图像划分为包括至少两个不同区域的像素块;
基于全卷积编码器,设计包含不同尺寸的卷积核的重构网络模型,其中,所述不同尺寸的卷积核与所述不同区域的像素块相对应;
根据包含至少一张无缺陷样本图像被划分为包括至少两个不同区域的像素块的样本数据,对所述包含不同尺寸的卷积核的重构网络模型进行训练;
根据所述训练的结果确定所述图像重构模型。
5.根据权利要求4所述的图像缺陷检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
获得对所述重构网络模型进行训练时产生的输出图像;
计算所述输出图像与所述样本数据之间的重构误差;
根据所述重构误差对所述图像重构模型进行参数调整,以优化所述图像重构模型。
6.一种图像缺陷检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取无缺陷证件图像数据,将所述无缺陷证件图像数据作为样本数据;
确定模块,用于根据所述样本数据,确定图像重构模型;
处理模块,用于将待检测图像输入到所述图像重构模型中,以确定所述待检测图像的修复图像;
计算模块,用于计算所述修复图像与所述待检测图像的残差图像;
检测模块,用于根据所述残差图像确定对所述待检测图像的缺陷检测结果。
7.根据权利要求6所述的图像缺陷检测装置,其特征在于,所述检测模块还用于根据预设的像素差异阈值,对所述残差图像上的缺陷位置进行定位,根据所述定位的结果,确定所述缺陷检测结果。
8.根据权利要求7所述的图像缺陷检测装置,其特征在于,还包括降噪模块,所述降噪模块用于所述检测模块根据预设的像素差异阈值,对所述残差图像上的缺陷位置进行定位之前,对所述残差图像进行降噪处理,获得所述残差图像的平滑图像;
所述检测模块还用于根据预设的像素差异阈值,对所述平滑图像上的缺陷位置进行定位。
9.根据权利要求6所述图像缺陷检测装置,其特征在于,所述确定模块还用于将所述样本数据中的至少一张无缺陷样本图像划分为包括至少两个不同区域的像素块;基于全卷积编码器,设计包含不同尺寸的卷积核的重构网络模型,其中,所述不同尺寸的卷积核与所述不同区域的像素块相对应;
根据包含至少一张无缺陷样本图像被划分为包括至少两个不同区域的像素块的样本数据,对所述包含不同尺寸的卷积核的重构网络模型进行训练;
根据所述训练的结果确定所述图像重构模型。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有计算机程序,所述处理器执行所述存储介质上存储的计算机程序时,实现如权利要求1-5中任一项所述的图像缺陷检测方法。
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