[发明专利]一种检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：

基于待检测目标的点云数据集，确定所述待检测目标的深度图像；

基于所述待检测目标的深度图像，确定所述待检测目标的至少一个几何特征；

将所述待检测目标的至少一个几何特征与检测模板的至少一个几何特征相匹配，确定所述待检测目标的坐标信息；

基于所述待检测目标的坐标信息，确定所述待检测目标的至少一个测量子区域，以及所述至少一个测量子区域对应的点云数据；

基于所述至少一个测量子区域对应的点云数据，以及所述至少一个测量子区域所对应的检测区域的检测方式，对所述待检测目标进行检测；

所述基于所述至少一个测量子区域对应的点云数据，以及所述至少一个测量子区域所对应的检测区域的检测方式，对所述待检测目标进行检测，包括：

基于所述至少一个测量子区域对应的点云数据，确定所述至少一个测量子区域对应的平面；确定所述至少一个测量子区域对应的点云数据与所述平面之间的距离的平均值；确定所述平均值为对应的测量子区域的平面度；基于所述至少一个测量子区域的平面度检测所述待检测目标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待检测目标的至少一个测量子区域基于匹配模型确定，所述基于所述待检测目标的深度图像，确定所述待检测目标的至少一个测量子区域之前，所述方法还包括：

确定检测模板的至少一个几何特征，以及所述检测模板的至少一个测量子区域；

基于训练样本集中各训练样本的深度图像，确定所述各训练样本的至少一个几何特征；

所述匹配模型包括的第一隐藏层对所述各训练样本的至少一个几何特征和所述检测模板的至少一个几何特征进行匹配，确定所述各训练样本的坐标信息；

所述匹配模型包括的第二隐藏层基于所述各训练样本的坐标信息和所述检测模板的至少一个测量子区域的坐标信息，确定所述各训练样本的至少一个测量子区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述待检测目标的坐标信息，确定所述待检测目标的至少一个测量子区域包括：

基于所述检测模板的点云数据集，确定所述检测模板的深度图像；

基于所述检测模板的深度图像，确定所述检测模板的至少一个几何特征，以及至少一个测量子区域。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待检测目标的点云数据集，确定所述待检测目标的深度图像之前，所述方法还包括：

基于所述检测模板的点云数据集校准所述待检测目标的点云数据集。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于检测模板的点云数据集校准所述待检测目标的点云数据集，包括：

确定与所述待检测目标的点云数据集中第一点云数据坐标信息对应的检测模板的点云数据集中的第二点云数据；

将所述第一点云数据的坐标信息在第一方向的分量替换为，所述第一点云数据的坐标信息在所述第一方向的分量与所述第二点云数据的坐标信息在所述第一方向的分量之差；

所述第一方向的分量被替换后的所述第一点云数据，为校准后的所述待检测目标的点云数据。