[发明专利]一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法有效
| 申请号: | 202110743193.X | 申请日: | 2021-07-01 |
| 公开(公告)号: | CN113543174B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
| 发明(设计)人: | 叶枫;汤辉;李典 | 申请(专利权)人: | 成都天奥集团有限公司 |
| 主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02;H04W24/08;H04W24/10 |
| 代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 陈一鑫 |
| 地址: | 611731 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 利用 测量 间隔 实现 高精度 跟踪 方法 | ||
1.一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,具体方法包括:
步骤1:基站和终端完成通信过程的上行同步和下行同步;
步骤2:基站向终端下发测量能力询问,终端收到基站下发的测量能力询问后,向基站上报测量能力信息,或者,终端主动向基站上报测量能力信息;
步骤3:基站收到终端上报的测量能力后,完成测量间隔配置,并将配置信息发送给终端;所述的测量间隔在时分双工系统下包括下行测量间隔和上行测量间隔两种类型;终端与基站间基于双向非相干测量体制进行测量;
步骤4:基站在测量间隔中向终端发送前向测量信号;基站在测量间隔中向终端发送前向测量信号的同时记录发送前向测量信号的时间Td1;
步骤5:终端在测量间隔中对前向测量信号进行检测,记录前向测距检测结果,或者估计前向测量信号帧接收时间Td2并记录;同时,终端利用前向测量信号估计前向伪多普勒频移fd1并记录;前向测距检测结果包括接收机获得的前向测量信号的帧计数、位计数、伪码计数以及码相位Φd1信息;
步骤6:终端在测量间隔中向基站发送反向测量信号,在所述的反向测量信号中将承载前向测量信息,前向测量信息包括以下两种信息之一,一种为:步骤5中得到的前向测距检测结果;另一种为:前向测量信号接收时间估计结果Td2和终端发送反向测量信号帧的时间Tu1;所述的前向测量信息中还包括终端根据前向测量信号估计的前向伪多普勒频移fd1;
步骤7:基站在测量间隔中对反向测量信号进行检测,获得反向测距检测结果,或者估计反向测量信号帧接收时间Tu2;同时,基站利用反向测量信号估计反向伪多普勒频移fd2;
步骤8:基站计算与终端之间的距离和终端移动速度;
基站基于前向测量信息中的前向伪多普勒频移测量值fd1,以及通过检测反向测量信号得到的反向伪多普勒频移测量值fd2,完成双向多普勒频率计算和终端移动速度计算;
基站通过前向测量信息中的前向测距检测结果以及通过检测反向测量信号得到的反向测距检测结果综合计算出基站与终端之间的距离;或基站通过前向测量信息中的时间戳Td2、Tu1,再结合Td1以及步骤7估计的反向测量信号帧接收时间Tu2计算出基站与终端之间的距离。
2.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,所述步骤1的下行同步的过程包括基站广播特定的下行同步信号、终端检测该下行同步信号;所述上行同步的包括终端向基站发送随机接入前导序列,基站对随机接入前导序列进行检测。
3.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,步骤2中所述的测量能力询问在基站发往终端的高层信令中携带,或者在MAC CE中携带;
测量能力信息包括:是否支持测量、是否有测量需求、支持的测量模式;所述测量模式包括:标准模式,扩频模式;
测量能力信息在终端发往基站的高层信令中携带,或者在MAC CE中携带。
4.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,
所述的测量间隔的确定方法为:基站将测量目标数量和测量精度量化为终端需求,将需要配置的测量间隔量化为配置结果,建立一个终端需求与配置结果的线性关系,该线性关系为:如果测量目标多、测量精度要求高,则测量间隔长。
5.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,所述的前向测量信号和反向测量信号采用的具体信号体制包括:直接序列扩频的信号体制、或跳频信号体制、或直扩跳扩混合扩频的信号体制。
6.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,所述步骤4和步骤5中的测量间隔,在时分双工系统中为上行测量间隔;步骤6和步骤7中的测量间隔,在时分双工系统中为下行测量间隔。
7.如权利要求1所述的一种利用测量间隔实现高精度跟踪测量的方法,其特征在于,在所述的测量间隔内,基站与终端之间只完成与测量相关的信号传输,其他通信过程相关的信号收发将暂停。
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