[发明专利]显示基板及其制备方法、显示装置在审

专利信息
申请号: 202110605040.9 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113345947A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 林奕呈;韩影;闫光;朱明毅;杨栋芳 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;G09G3/3225
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 和箫;曲鹏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显示 及其 制备 方法 显示装置
【说明书】:

本公开实施例提供一种显示基板及其制备方法、显示装置。该显示基板包括:衬底以及位于所述衬底的一侧的多个子像素;多个子像素包括:发光元件以及用于检测所述发光元件的发光亮度的发光检测电路;所述发光检测电路包括:光学传感元件以及与所述光学传感元件连接的控制晶体管;还包括:位于所述衬底的一侧的沿第一方向延伸的控制信号线和沿第二方向延伸的检测信号线;其中,多个控制晶体管的控制极连接同一条控制信号线,所述多个控制晶体管的第一极连接同一条检测信号线,所述第一方向与所述第二方向交叉。

技术领域

本公开实施例涉及但不限于显示技术领域,尤其涉及一种显示基板及其制备方法、显示装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器件为主动发光显示器件,具有自发光、广视角、高对比度、低耗电、极高反应速度等优点。随着显示技术的不断发展,OLED显示器件已成为目前显示领域的主流产品。

由于OLED显示器件在使用过程中,发光元件的发光亮度会变化,为了改善发光元件发光亮度变化对显示效果的不利影响,通常会设置发光检测电路来根据亮度信号对OLED器件进行亮度补偿。但是,发光检测电路整体占用像素空间较大,导致OLED显示器件可实现的分辨率较低。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

第一方面,本公开实施例提供了一种显示基板,包括:衬底以及位于所述衬底的一侧的多个子像素;多个子像素包括:发光元件以及用于检测所述发光元件的发光亮度的发光检测电路;所述发光检测电路包括:光学传感元件以及与所述光学传感元件连接的控制晶体管;

还包括:位于所述衬底的一侧的沿第一方向延伸的控制信号线和沿第二方向延伸的检测信号线;其中,多个控制晶体管的控制极连接同一条控制信号线,所述多个控制晶体管的第一极连接同一条检测信号线,所述第一方向与所述第二方向交叉。

第二方面,本公开实施例提供了一种显示装置,包括:上述实施例中的所述的显示基板。

第三方面,本公开实施例提供了一种显示基板的制备方法,所述显示基板为上述的显示基板,所述制备方法包括:

提供衬底;

在所述衬底上形成多个发光检测电路、沿第一方向延伸的控制信号线和沿第二方向延伸的检测信号线;

在形成有所述多个发光检测电路的衬底上形成多个发光元件。

本公开实施例提供的显示基板及其制备方法、显示装置,该显示基板可以包括:衬底、位于衬底的一侧的多个子像素、沿第一方向延伸的控制信号线和沿第二方向延伸的检测信号线;其中,多个子像素包括:发光元件以及用于检测发光元件的发光亮度的发光检测电路;发光检测电路包括:光学传感元件以及与光学传感元件连接的控制晶体管;多个控制晶体管的控制极连接同一条控制信号线,多个控制晶体管的第一极连接同一条检测信号线,第一方向与第二方向交叉。如此,在显示基板中,通过设置多个子像素中的发光元件与多个子像素中的光学传感元件为一一对应关系且多个子像素中的光学传感元件与多个子像素中的控制晶体管为一一对应关系,可以保证检测发光元件的发光亮度的精度,而且通过设置多个子像素中的控制晶体管共用同一条控制信号线和同一条检测信号线,可以节省布线空间,可以缩小发光检测电路的占用面积,可以实现提高空间利用率,从而可以实现高分辨率。

本公开的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本公开而了解。本公开的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

在阅读并理解了附图和详细描述后,可以明白其他方面。

附图说明

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