[发明专利]图像深度估计方法、装置、电子设备及计算机存储介质

权利要求书

1.一种图像深度估计方法，其特征在于，所述方法包括：

将第一尺寸的目标图像缩小至第二尺寸，得到第二尺寸的目标图像；

通过深度估计模型的一级网络估计所述第二尺寸的目标图像的深度信息，得到第二尺寸的第一深度图像，所述第一深度图像包括所述第二尺寸的目标图像中各个像素点对应的深度信息；所述一级网络的网络层数大于所述二级网络的网络层数；

通过所述深度估计模型的二级网络对所述第一尺寸的目标图像和所述第二尺寸的第一深度图像进行处理，得到第一尺寸的第二深度图像；所述第二深度图像包括所述第一尺寸的目标图像中各个像素点对应的深度信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述深度估计模型的二级网络对所述第一尺寸的目标图像和所述第二尺寸的第一深度图像进行处理，得到第一尺寸的第二深度图像，包括：

通过所述深度估计模型的二级网络提取所述第一尺寸的目标图像的图像特征；

通过所述二级网络根据所述图像特征对所述第二尺寸的第一深度图像进行一次或多次放大处理，以得到第一尺寸的第二深度图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述深度估计模型的二级网络提取所述第一尺寸的目标图像的图像特征，包括：

通过所述深度估计模型的二级网络提取所述第一尺寸的目标图像的图像特征，得到第一尺寸的目标特征图，并对所述目标特征图进行一次或多次缩小处理，得到一帧或多帧缩小特征图；

以及，所述通过所述二级网络根据所述图像特征对所述第二尺寸的第一深度图像进行一次或多次放大处理，以得到第一尺寸的第二深度图像，包括：

通过所述二级网络基于一帧或多帧缩小特征图对所述第二尺寸的第一深度图像进行一次或多次放大处理，得到第一尺寸的放大深度图像，并根据所述第一尺寸的放大深度图像和所述第一尺寸的目标特征图生成第一尺寸的第二深度图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述二级网络至少包括：M个下采样模块，以及M个上采样模块，M为大于或等于1的正整数；

所述对所述目标特征图进行一次或多次缩小处理，得到一帧或多帧缩小特征图，包括：

依次使用所述M个下采样模块连续对所述目标特征图进行M次下采样，以得到所述M个下采样模块分别输出的M帧缩小特征图；

所述通过所述二级网络基于一帧或多帧缩小特征图对所述第二尺寸的第一深度图像进行一次或多次放大处理，以得到第一尺寸的放大深度图像，包括：

将所述第二尺寸的第一深度图像输入第一个上采样模块，基于所述M帧缩小特征图，依次使用所述M个上采样模块连续对所述第一深度图像进行M次上采样，以得到第M个上采样模块输出的第一尺寸的放大深度图像。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述M帧缩小特征图，依次使用所述M个上采样模块连续对所述第一深度图像进行M次上采样，包括：

在所述第一个上采样模块对所述第一深度图像进行上采样时，将所述第一深度图像与所述第M个下采样模块输出的第二尺寸的缩小特征图进行融合，以得到所述第一个上采样模块输出的放大深度图像；

在第Y个上采样模块对第Y-1个上采样模块输出的放大深度图像进行上采样时，将所述第Y-1个上采样模块输出的放大深度图像与相同尺寸的缩小特征图进行融合，得到所述第Y个上采样模块输出的放大深度图像；所述Y为大于或等于2，且小于或等于所述M的正整数。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述M个下采样模块中每个下采样模块的采样率，以及所述M个上采样模块中每个上采样模块的采样率均为第一比值。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，M的取值是根据第一尺寸与第二尺寸之间的第二比值和所述第一比值确定的。