[发明专利]水平井的井眼轨迹校正方法、装置、设备和存储介质在审
申请号: | 202110390087.8 | 申请日: | 2021-04-12 |
公开(公告)号: | CN113719236A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 高健;王国勇;魏斌;梁治国;熊小林;白森;段志勇;刘吉;沈柏坪;曾番惠;田士伟;郑丽君;敖苍穹 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团长城钻探工程有限公司 |
主分类号: | E21B7/04 | 分类号: | E21B7/04;E21B44/00;E21B49/00;G06T11/20 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 侯晓雅 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水平 轨迹 校正 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
本申请提供了一种水平井的井眼轨迹校正方法、装置、设备和存储介质,属于石油勘探与开发技术领域。方法包括:基于化学元素参数和笔石参数,分别确定待研究储层的岩相图和笔石图;基于岩相图和笔石图,确定第一对比图;基于笔石图和第一测井曲线,确定第二对比图;基于待研究储层的每个地层的化学元素参数,确定待研究储层的目标储层;基于第一对比图,确定目标储层的目标岩相类型和目标笔石类型;基于第二测井曲线、第二对比图、随钻曲线和随钻解释曲线,确定钻井地层的岩相类型和笔石类型;基于钻井地层的岩相类型和笔石类型与目标岩相类型和目标笔石类型的差别,调整目标井的井眼轨迹,使井眼轨迹对准目标储层,提高了待研究储层的开发效率。
技术领域
本申请涉及石油勘探与开发技术领域,特别涉及一种水平井的井眼轨迹校正方法、装置、设备和存储介质。
背景技术
页岩气是储存于页岩储层中的非常规天然气;开发页岩气时,主要通过地质综合评价技术来指导页岩储层的水平井钻井工作,使钻井时能够按照预设的井眼轨迹,钻至页岩储层中富含页岩气的目标储层。由于水平井钻井时的井眼轨迹与目标储层会存在误差,因此需要校正水平井的井眼轨迹。
相关技术中,在钻井完成后采用地质分析化验、地球物理测井等手段测得水平井的井眼轨迹,然后基于水平井的井眼轨迹与目标储层的存在的误差,调整水平井的井眼轨迹。
由于评价页岩储层的地质分析化验、地球物理测井等手段基本在钻井完成后进行,这样,无法实现水平井钻井过程中的随钻评价,即不能在钻井过程中调整水平井的井眼轨迹,因此不能保证钻井时井眼轨迹与目标储层的钻遇率,导致后期需要大幅度调整钻井过程中的井眼轨迹,进而影响钻井作业的施工,使得页岩气的开发效率低。
发明内容
本申请实施例提供了一种水平井的井眼轨迹校正方法和装置,能够提高页岩气的开发效率。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种水平井的井眼轨迹校正方法,所述方法包括:
获取待研究储层的化学元素参数、笔石参数和第一测井曲线;
基于所述化学元素参数,确定所述待研究储层的岩相图,所述岩相图包括所述待研究储层的每个位置深度的岩相类型和地层参数;
基于所述笔石参数,确定所述待研究储层的笔石图,所述笔石图包括所述待研究储层的每个位置深度的笔石类型和笔石分层参数;
基于所述岩相图和所述笔石图,确定第一对比图,所述第一对比图包括所述每个位置深度的岩相类型、地层参数、笔石类型和笔石分层参数;
基于所述笔石图和所述第一测井曲线,确定第二对比图,所述第二对比图包括所述每个位置深度的笔石类型、笔石分层参数和第一测井曲线;
基于所述待研究储层的每个地层的化学元素参数,确定所述待研究储层的目标储层;
基于所述第一对比图,确定所述目标储层的目标岩相类型和目标笔石类型;
获取所述待研究储层的随钻解释曲线,所述随钻解释曲线包括所述每个位置深度的岩相类型、地层参数、第一元素录井曲线和第一自然伽马曲线;
获取所述待研究储层的目标井钻井时的井眼轨迹所在钻井地层的第二测井曲线和随钻曲线,所述随钻曲线包括第二元素录井曲线和第二自然伽马曲线;
基于所述第二测井曲线、所述第二对比图、所述随钻曲线和所述随钻解释曲线,确定所述钻井地层的岩相类型和笔石类型;
基于所述钻井地层的岩相类型和笔石类型与所述目标岩相类型和所述目标笔石类型的差别,调整所述目标井的井眼轨迹,使所述井眼轨迹对准所述目标储层。
在一种可能的实现方式中,所述基于所述第二测井曲线、所述第二对比图、所述随钻曲线和所述随钻解释曲线,确定所述钻井地层的岩相类型和笔石类型,包括:
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