[发明专利]水平井的井眼轨迹校正方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种水平井的井眼轨迹校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待研究储层的化学元素参数、笔石参数和第一测井曲线；

基于所述化学元素参数，确定所述待研究储层的岩相图，所述岩相图包括所述待研究储层的每个位置深度的岩相类型和地层参数；

基于所述笔石参数，确定所述待研究储层的笔石图，所述笔石图包括所述待研究储层的每个位置深度的笔石类型和笔石分层参数；

基于所述岩相图和所述笔石图，确定第一对比图，所述第一对比图包括所述每个位置深度的岩相类型、地层参数、笔石类型和笔石分层参数；

基于所述笔石图和所述第一测井曲线，确定第二对比图，所述第二对比图包括所述每个位置深度的笔石类型、笔石分层参数和第一测井曲线；

基于所述待研究储层的每个地层的化学元素参数，确定所述待研究储层的目标储层；

基于所述第一对比图，确定所述目标储层的目标岩相类型和目标笔石类型；

获取所述待研究储层的随钻解释曲线，所述随钻解释曲线包括所述每个位置深度的岩相类型、地层参数、第一元素录井曲线和第一自然伽马曲线；

获取所述待研究储层的目标井钻井时的井眼轨迹所在钻井地层的第二测井曲线和随钻曲线，所述随钻曲线包括第二元素录井曲线和第二自然伽马曲线；

基于所述第二测井曲线、所述第二对比图、所述随钻曲线和所述随钻解释曲线，确定所述钻井地层的岩相类型和笔石类型；

基于所述钻井地层的岩相类型和笔石类型与所述目标岩相类型和所述目标笔石类型的差别，调整所述目标井的井眼轨迹，使所述井眼轨迹对准所述目标储层。

2.根据权利要求1所述的水平井的井眼轨迹校正方法，其特征在于，所述基于所述第二测井曲线、所述第二对比图、所述随钻曲线和所述随钻解释曲线，确定所述钻井地层的岩相类型和笔石类型，包括：

对于所述第二测井曲线中的钻井地层，从所述第二对比图中获取所述钻井地层的笔石类型；

对于所述随钻曲线中的钻井地层，从所述随钻解释曲线中获取所述钻井地层的岩相类型。

3.根据权利要求1所述的水平井的井眼轨迹校正方法，其特征在于，所述基于所述钻井地层的岩相类型和笔石类型与所述目标岩相类型和所述目标笔石类型的差别，调整所述目标井的井眼轨迹，使所述井眼轨迹对准所述目标储层，包括：

对比所述钻井地层的笔石类型和所述目标笔石类型，调整所述井眼轨迹，使所述井眼轨迹与所述目标储层处于同一笔石分层；

对比所述钻井地层的岩相类型和所述目标岩相类型，调整与所述目标储层处于同一笔石分层的井眼轨迹，使所述井眼轨迹与所述目标储层处于同一笔石分层和同一地层。

4.根据权利要求1所述的水平井的井眼轨迹校正方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于所述目标储层的化学元素参数，确定所述目标井在水平段的多个岩相段参数，所述水平段为调整所述井眼轨迹后，所述井眼轨迹对准的目标储层中待压裂的目标储层段；

基于所述水平段的多个岩相段参数，划分岩相段参数不同的多个压裂段，所述多个压裂段均位于所述水平段；

对于每个压裂段，基于所述压裂段的岩相段参数，确定所述压裂段的压力参数，所述压力参数用于指导所述压裂段进行压裂。

5.根据权利要求4所述的水平井的井眼轨迹校正方法，其特征在于，所述岩相段参数包括岩相类型和脆性指数，所述化学元素参数包括多个岩相段的化学元素参数；

所述基于所述目标储层的化学元素参数，确定所述目标井在水平段的多个岩相段参数，包括：

对于每个岩相段，基于所述岩相段的化学元素参数，确定与所述化学元素参数匹配的矿物含量和脆性指数；

基于所述矿物含量，确定与所述矿物含量匹配的岩相类型。