[发明专利]一种基于人工智能的电极缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种基于人工智能的电极缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

采集电路板图像，从所述电路板图像中获取至少一个电极区域；

相机从电极区域的中心点的上方沿着第一矢量移动，并根据相机开始移动时采集的连续两帧图像获取第一光流场；所述第一矢量的方向为所述连续两帧图像中的首帧图像的中心点指向所述电极区域的中心点，模长与所述电极区域的面积呈正相关关系；

对所述第一光流场进行阈值分割得到高光区域，从所述高光区域中分割出高亮区域，所述高光区域的中心点指向所述高亮区域的中心点为高光增强方向；所述相机以第一次移动的终点为起点沿着垂直于所述高光增强方向的第二矢量移动，并根据所述相机开始移动时和结束移动前采集的连续两帧图像分别获取第二光流场和第三光流场；所述第二矢量的模长与所述第一矢量的模长相同；

根据所述第一光流场、所述第二光流场和所述第三光流场对应的相机的坐标和高光区域的高光光流矢量从相机可达区域中获取初步可信区域；

对所述相机两次移动中获取的图像集合进行缺陷检测，当在多张图像的相同位置检测到相同的缺陷时，所述缺陷所在的区域为相机损坏区域，对所述相机损坏区域进行坐标转换得到不可信区域；

从所述初步可信区域中排除所述不可信区域得到可信区域，对所述相机从所述可信区域中获取的电路板图像进行缺陷检测，得到电极缺陷检测结果；

所述多张图像的数量占所述图像集合中图像数量的百分之八十以上；

所述对所述相机从所述可信区域中获取的电路板图像进行缺陷检测的步骤包括：

将在可信区域中获取的电路板图像输入全卷积神经网络中得到电极图像，将所述电极图像输入缺陷检测网络进行缺陷检测。

2.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电极缺陷检测方法，其特征在于，所述获取至少一个电极区域之后还包括将每个电极区域进行透视变换使所述每个电极区域的大小相等。

3.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电极缺陷检测方法，其特征在于，在所述第一光流场无高光区域时，所述高光增强方向为所述首帧图像的中心点指向高亮区域的中心点，所述高亮区域为所述图像中亮度最高的区域。

4.根据权利要求1所述的一种基于人工智能的电极缺陷检测方法，其特征在于，所述获取初步可信区域的步骤包括：

以所述相机的坐标为离散点，将对应的高光光流矢量叠加在所述坐标的周围生成缓冲区；

根据每个高光光流矢量的模长为所述缓冲区划分区域并分配灰度值；

将所述相机可达区域的灰度值进行反相得到初步可信区域。