[发明专利]跟踪精度测量仪校准装置有效

专利信息
申请号: 202110280082.X 申请日: 2021-03-16
公开(公告)号: CN113029198B 公开(公告)日: 2023-03-10
发明(设计)人: 陈洁婧;姜昌录;王雷;康登魁;王生云 申请(专利权)人: 西安应用光学研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 周恒
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 跟踪 精度 测量仪 校准 装置
【说明书】:

本发明属于光学计量与测量技术领域,具体涉及一种跟踪精度测量仪校准装置,包括:平行光管阵列、跟踪精度探测器组、精密可调轴系和计算机采集处理系统;平行光管阵列用于接收、对准和无畸变聚焦被校准跟踪精度测量仪发出的光信号,将光信号会聚到跟踪精度探测器组的光敏面上;跟踪精度探测器组用于探测来自平行光管阵列的光信号,并转换输出电信号;精密可调轴系用于对平行光管阵列和跟踪精度探测器组进行支撑和高精度调节;计算机采集处理系统用于采集跟踪精度探测器组输出的电信号,进行数据分析处理和存储。其具有工作波长范围宽、动态范围大、跟踪精度特性参数精确测量等主要功能和特点,满足武器型号光电系统跟踪精度测量仪的测量校准需求。

技术领域

本发明属于光学计量与测量技术领域,具体涉及一种跟踪精度测量仪校准装置。

背景技术

光电搜索跟踪系统是将红外热像仪和可见光电视,以及激光测距和指示系统安装在两轴或多轴陀螺稳定平台上的集光学搜索、跟踪及瞄准功能为一体的光电武器平台。跟踪精度是评价军用光电搜索跟踪系统跟踪能力的关键参数。目前跟踪精度测量仪的代表方法主要有两类:半实物仿真测试方法、现场打靶测试方法,部分单位也采用单项参数的测试和理论计算给出军用光电搜索跟踪系统整机系统的跟踪精度,由于这些已有的跟踪精度测试装置和测试评价方法差别很大,测量结果的准确性和可信度受到质疑。

中国专利CN103090883A公布了一种光电跟踪系统动态跟踪精度校准装置及方法,该装置由信标光分系统、高速图像采集系统和处理分系统组成。信标光分系统产生光斑模拟多种运动方式和运动速度的目标,通过高速图像采集系统对光斑进行采集,从而根据对跟踪精度的测量对光电跟踪系统进行快速、准确的校正。中国专利CN104932541A公布了一种光电跟踪仪方位跟踪精度的检测方法,该装置由无穷远目标发生器、运动平台、电控系统三部分组成。无穷远目标发生器采用大口径离轴反射式平行光管,运动平台由直线运动平台和转台组成,可以实现水平旋转和直线运动,电控系统用来自动控制运动平台的动作。上述专利以及专利CN105589062A描述的门型框架形式的跟踪检测装置和专利CN107478450A描述的旋转臂形式的跟踪精度检测系统等各种跟踪精度测量仪有以下特点:

(1)测试装置和测试评价方法均针对不同跟踪系统的功能特点,测试方法和评价方法均不相同;

(2)测试方法和评价方法没有统一的标准;

(3)均未涉及跟踪精度测量装置或测量仪的校准。

针对上述问题,且随着各类跟踪精度测试设备性能的不断提升,迫切需要研制一种对的跟踪精度测量仪测量精度进行校准的跟踪精度测量仪校准装置。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是:为解决现有技术存在的问题,如何提供一种工作波长范围宽、动态范围大、跟踪精度特性参数精确测量等主要功能和特点的跟踪精度测量仪校准装置。

(二)技术方案

为解决上述技术问题,本发明提供一种跟踪精度测量仪校准装置,其包括:平行光管阵列1、跟踪精度探测器组、精密可调轴系3和计算机采集处理系统4;

所述平行光管阵列1用于接收、对准和无畸变聚焦被校准跟踪精度测量仪发出的光信号,将光信号会聚到跟踪精度探测器组的光敏面上;

所述跟踪精度探测器组用于探测来自平行光管阵列1的光信号,并转换输出电信号;

所述精密可调轴系3用于对平行光管阵列1和跟踪精度探测器组进行支撑和调节;

所述计算机采集处理系统4用于采集跟踪精度探测器组输出的电信号,进行数据分析处理和存储。

其中,所述平行光管阵列1包括若干个平行光管。

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