[发明专利]跟踪精度测量仪校准装置

权利要求书

1.一种跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，其包括：平行光管阵列(1)、跟踪精度探测器组、精密可调轴系(3)和计算机采集处理系统(4)；

所述平行光管阵列(1)用于接收、对准和无畸变聚焦被校准跟踪精度测量仪发出的光信号，将光信号会聚到跟踪精度探测器组的光敏面上；

所述跟踪精度探测器组用于探测来自平行光管阵列(1)的光信号，并转换输出电信号；

所述精密可调轴系(3)用于对平行光管阵列(1)和跟踪精度探测器组进行支撑和调节；

所述计算机采集处理系统(4)用于采集跟踪精度探测器组输出的电信号，进行数据分析处理和存储；

所述平行光管阵列(1)是在0°～90°范围内布局10个平行光管，从而组成阵列；每个平行光管均安装在精密可调轴系(3)上；

每个平行光管均对应设置一个跟踪精度探测器(2)；

所述平行光管阵列(1)中每一个平行光管和其所对应的跟踪精度探测器(2)共光轴，光轴指向角度使用经纬仪进行校准；

所述平行光管阵列(1)中，10个平行光管定义其编号为a至j；

则编号a～c的平行光管之间相互角度间隔较大，用于跟踪精度测试设备在高速旋转时的角速度校准；

编号c～j的平行光管之间相互角度间隔较小，用于跟踪精度测试设备在低速旋转时的角速度校准。

2.如权利要求1所述的跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，编号a～c的平行光管之间相互角度间隔设置为10°～20°；编号c～j的平行光管之间相互角度间隔设置为小于5°。

3.如权利要求1所述的跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，根据光谱范围，平行光管内设的准直物镜设置有两套；第一套准直物镜光谱范围为可见光到近红外，第二套准直物镜光谱范围为中波红外。

4.如权利要求3所述的跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，

每个跟踪精度探测器(2)对应安装于平行光管的焦面上，根据光谱范围分别选择三种探测器对应不同的测试波长；

所述三种探测器包括可见光探测器、近红外探测器、中波红外探测器。

5.如权利要求1所述的跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，

所述计算机采集处理系统(4)包括数据采集模块、数据分析处理模块和数据存储管理模块；

在参数图像的采集过程中，数据采集模块采集跟踪精度探测器(2)输出的电信号，输入数据分析处理模块，数据分析处理模块将电信号中的采集图像序列按照对应平行光管的序号进行排序，分析光源在不同时刻的位置信息，分析被校准跟踪精度测量仪对应不同时刻的秒准线角度位置信息，处理得到跟踪精度参数数据；

所述数据存储管理模块对试验的原始数据进行保存；且设置为可以通过数据分析处理模块打开已保存的原始数据，继续对数据进行处理。

6.如权利要求1所述的跟踪精度测量仪校准装置，其特征在于，所述跟踪精度测量仪校准装置的工作方式为：

校准时，首先调节被校准跟踪精度测量仪的回转面与跟踪精度测量仪校准装置的某一平行光管光轴所在平面重合，然后被校准跟踪精度测量仪开始运动，跟踪精度测量仪校准装置中，平行光管阵列(1)的平行光管依次接收光信号，接收到光信号的平行光管将光信号输出至处于其焦面的对应跟踪精度探测器(2)上光敏面，多个跟踪精度探测器(2)依次记录被校准跟踪精度测量仪光源照射到探测器的时刻，根据每个探测器事先标定好的角度信息以及被照明的时刻，并通过计算机采集处理系统(4)解算被校准跟踪精度测量仪的角速度信息。