[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法、显示基板、显示装置在审

专利信息
申请号: 202110268983.7 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113054035A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 朱磊;李志勇;杨润洲;胡伟;税守坚;薛锐;周宇;王春雷 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L27/12;H01L21/336
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 解婷婷;曲鹏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 显示 显示装置
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括设置在基底上的有源层、栅电极、源电极、漏电极和载流子注入极,所述有源层包括源极区、漏极区、沟道区和载流子注入区,所述源电极电连接到所述源极区,所述漏电极电连接到所述漏极区,所述载流子注入极电连接到所述载流子注入区,所述载流子注入区与所述源极区、漏极区为不同极性。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述沟道区靠近所述栅电极一侧为第一侧,所述源极区设置在所述沟道区的第二侧,所述漏极区设置在所述沟道区的第三侧,所述载流子注入区设置在所述沟道区除所述第一侧、第二侧、第三侧之外的至少一侧。

3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述载流子注入极与所述源电极、漏电极同层设置;或者,所述载流子注入极与所述源电极、漏电极不同层设置。

4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述源极区为第一极性重掺杂,所述漏极区为第一极性重掺杂,所述载流子注入区为第二极性重掺杂。

5.根据权利要求1至4任一所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述栅电极连接第一电源端,所述载流子注入极连接第二电源端,所述薄膜晶体管为N型薄膜晶体管,第一电源端的电压处于下降沿时段时,所述第二电源端的电压为接地电压或者正电压;或者,所述薄膜晶体管为P型薄膜晶体管,所述第一电源端的电压处于上升沿时段时,所述第二电源端的电压为接地电压或者负电压。

6.一种显示基板,其特征在于,包括如权利要求1至5任一所述的薄膜晶体管。

7.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求6所述的显示基板。

8.一种薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,包括:

在基底上形成有源层和栅电极,所述有源层包括源极区、漏极区、沟道区和载流子注入区,所述载流子注入区与所述源极区、漏极区为不同极性;

形成源电极、漏电极和载流子注入极,所述源电极电连接到所述源极区,所述漏电极电连接到所述漏极区,所述载流子注入极电连接到所述载流子注入区。

9.根据权利要求8所述的薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述在基底上形成有源层包括:

在基底上形成多晶硅图案;

对所述多晶硅图案进行第一极性掺杂,形成所述源极区和所述漏极区;

对所述多晶硅图案进行第二极性掺杂,形成所述载流子注入区。

10.根据权利要求8或9所述的薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述形成源电极、漏电极和载流子注入极包括:

沉积金属薄膜,通过一次构图工艺形成所述源电极、所述漏电极和所述载流子注入极。

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