[发明专利]电容器电极、电容器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110168051.5 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN114864280A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 安胜璟;胡艳鹏;卢一泓 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
主分类号: H01G4/005 分类号: H01G4/005;H01G13/00
代理公司: 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 代理人: 赵永刚
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电容器 电极 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种电容器电极,其特征在于,包括:下电极;

所述下电极包括多个阶段部,所述多个阶段部自下而上依次连接,所述多个阶段部的横截面尺寸自下而上逐个减小;

其中,横截面尺寸最小的阶段部为所述下电极的一端。

2.根据权利要求1所述的电容器电极,其特征在于,所述下电极的材料包括:氮化钛。

3.根据权利要求1或2所述的电容器电极,其特征在于,所述下电极的形状包括:圆筒形电极;

所述圆筒形电极内的空腔的横截面尺寸自下而上逐渐增大。

4.一种电容器,其特征在于,包括:基底,所述基底上形成有着陆插塞;

位于所述基底上的刻蚀停止层;

如权利要求1至3中任一项所述的下电极,所述下电极穿过所述所述刻蚀停止层与所述着陆插塞接触;

位于下电极内壁和外壁上的介质层;

位于介质层之上的上电极。

5.一种电容器电极制备方法,其特征在于,包括:

提供模制氧化层,所述模制氧化层的上表面开设有预通孔;

在所述预通孔内沉积下电极材料层,形成初始电极;

在所述初始电极的腔室内填充所述模制氧化层;

刻蚀指定深度的模制氧化层,以使初始电极的内侧壁和外侧壁被氧化;

重复所述刻蚀指定深度的模制氧化层的步骤,以去除所述初始电极被氧化的部分,并在所述初始电极的一端形成多个阶段部,所述多个阶段部自下而上依次连接,所述多个阶段部的横截面尺寸自下而上逐个减小;

其中,横截面尺寸最小的阶段部为所述下电极的一端。

6.根据权利要求5所述的电容器电极制备方法,其特征在于,在每次刻蚀指定深度的模制氧化层之后,所述方法还包括:

对所述模制氧化层和所述初始电极进行干燥处理。

7.根据权利要求5所述的电容器电极制备方法,其特征在于,所述模制氧化层的材料包括:氧化硅。

8.根据权利要求5所述的电容器电极制备方法,其特征在于,所述初始电极的材料包括:氮化钛。

9.根据权利要求5至8任一项所述的电容器电极制备方法,其特征在于,所述刻蚀指定深度的模制氧化层,包括:

采用含有氟化氢的缓冲氧化蚀刻液,刻蚀指定深度的模制氧化层。

10.一种电容器制备方法,其特征在于,包括:

提供一基底;

在所述基底上形成有着陆插塞;

在所述着陆插塞的上方形成刻蚀停止层;

在所述刻蚀停止层的上方形成模制氧化层;

刻蚀所述模制氧化层,以形成贯穿所述模制氧化层的预通孔;

在所述预通孔的底部刻蚀所述停止层,以形成连通孔,所述连通孔与着陆插塞连通;

在所述连通孔和所述预通孔内形成初始电极;

在所述初始电极的腔室内填充所述模制氧化层;

刻蚀指定深度的模制氧化层,以使初始电极的内侧壁和外侧壁被氧化;

重复所述刻蚀指定深度的模制氧化层的步骤,以去除所述初始电极被氧化的部分,并在所述初始电极的一端形成多个阶段部,所述多个阶段部自下而上依次连接,所述多个阶段部的横截面尺寸自下而上逐个减小;

其中,横截面尺寸最小的阶段部为所述下电极的一端。

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