[发明专利]一种用于ESD保护的低压SCR器件有效
申请号: | 202110024135.1 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN112864149B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 刘志伟;卿乙宏;张钰鑫;李洁翎;杜飞波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 esd 保护 低压 scr 器件 | ||
本发明属于静电防护技术领域,提供一种用于ESD保护的低压单向/双向SCR器件;相较于传统静电防护器件,本发明采用新型结构设计使得器件的辅助触发通路(正向/反向)包含3个N+/P‑WELL二极管,进而使得器件的直流阻塞能力得到增强,从而获得比传统静电防护器件更低的漏电流、更低的静态功耗、以及更加稳定的寄生电容值,获得更好的静电防护效果;相较于现有用于ESD保护的低功耗双向SCR器件,本发明采用新型结构设计能够避免器件结构中潜在的PNPN串通现象,使得低压双向SCR器件在工作电压为1.5V时不会出现漏电流陡增现象,即本发明器件在1.5V以上、1.8V以下的工作电压时依然能够实现有效的、较低功耗的ESD保护。
技术领域
本发明属于静电防护技术领域,具体涉及一种用于ESD保护的低压单向和双向SCR器件。
背景技术
随着集成电路工艺的不断发展,静电放电(Electro-Static Discharge、简称ESD)事件带来的芯片损伤愈发严重,严重制约了半导体产品的可靠性;因此,为芯片提供有效的片上(on chip)ESD防护设计是十分必要的;并且,整体来说,制造工艺越先进,ESD防护工程的难度就越大。
在众多可供选择的ESD防护器件中,SCR(Silicon-Controlled-Rectifier、可控硅整流器)具有非常高的面积效率得到广泛应用。而在低压领域广泛使用的是直连型SCR(DCSCR、directly-connected SCR),其传统双向结构如图1所示,其等效电路如图2所示;该结构中,正向的辅助触发通路(从PAD1到PAD2)由线101、P+121、N120、N+122、线103、P+151、P150、N+152、线102构成,可以看出正向的辅助触发通路为一个二极管串,所包含的二极管个数为2,即一个P+/N-WELL二极管(P+121和N120组成的二极管)和一个N+/P-WELL二极管(N+152和P150组成的二极管);反向的辅助触发通路(从PAD2到PAD1)由线105、P+132、N130、N+131、线106、P+172、P170、N+171、线104构成,可以看出反向的辅助触发通路同样为一个二极管串,所包含的二极管个数为2,即一个P+/N-WELL二极管(P+132和N130组成的二极管)和一个N+/P-WELL二极管(N+171和P170组成的二极管);该双向结构能够实现双向保护,但是存在漏电流大的问题,进而大幅增加芯片的静态功耗。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的