[发明专利]数据库评价方法、数据库评价装置

说明书

数据库评价方法包括第一步骤、第二步骤、第三步骤、第四步骤。第一步骤对N个像素的每一个，使用基于数据库来进行设定的阈值，判断包含与每个所述像素相对应的N个像素数据在内的采样数据是否满足规定条件。第二步骤在判断为所述采样数据满足所述规定条件时，作为与由所述采样数据所包含的K个所述像素数据所表示的K个像素有关的图像来进行显示。第三步骤从所述第二步骤中所显示的K个所述像素数据中选择性地显示L个所述像素数据。第四步骤显示在所述第三步骤中显示的L个所述像素数据中所包含的一个所述像素数据、以及基于所述数据库来对与所述一个所述像素数据相对应的一个所述像素进行设定的分布。

技术领域

本发明涉及数据库评价方法和数据库评价装置。

背景技术

已知有基于对检查对象物进行拍摄而得到的拍摄图像来判定检查对象物有无缺陷的技术。在该技术中，将拍摄图像的各像素的浓淡值与合格品范围进行比较。

日本专利特开2010-230452号公报所公开的图像处理装置将判定为合格品的检查对象物的拍摄图像作为设定用图像。求出设定用图像的每个像素的浓淡值的频度分布。根据该频度分布结果再设定合格品范围。

例如，在由于合格品范围的上限值高于最佳值而将不良像素误判定为合格品像素的情况下，降低该上限值。例如，在由于合格品范围的下限值低于最佳值而将不良像素误判定为合格品像素的情况下，提高该下限值。

在日本专利特开2010-230452号公报中，还设想了将不仅包含合格品还包含不合格品的多个检查对象物的拍摄图像作为设定用图像的情况。在这种情况下，缺陷检查的开始时刻的合格品范围比较宽。随着通过之后进行的缺陷检查而判定为合格品的检查对象物的拍摄图像被追加，合格品范围的可靠性提高。

专利文献1：日本专利特开2010-230452号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

在日本专利特开2010-230452号公报中，对从设定用图像中获得的合格品范围进行重新设定，不对设定用图像本身的妥当性进行判断。按照从旧到新的顺序删除设定用图像，不因设定用图像不恰当而将其删除。

在本发明中，提供一种对针对每个像素来进行设定的阈值所基于的数据库进行评价的技术。

解决技术问题所采用的技术方案

本发明所涉及的数据库评价方法包括第一步骤、第二步骤、第三步骤、第四步骤。第一步骤对N个像素的每一个，使用基于数据库来进行设定的阈值，判断包含与每个所述像素相对应的N个像素数据在内的采样数据是否满足规定的条件，N为2以上的整数。第二步骤在判断为所述采样数据满足所述规定条件时，作为与由所述采样数据所包含的K个所述像素数据所表示的K个像素有关的图像来进行显示，K为2以上N以下的整数。第三步骤从所述第二步骤中所显示的K个所述像素数据中选择性地显示L个所述像素数据，L为2以上K以下的整数。第四步骤显示在所述第三步骤中显示的L个所述像素数据中所包含的一个所述像素数据、以及基于所述数据库来对与所述一个所述像素数据相对应的一个所述像素进行设定的分布。

本发明所涉及的数据库评价装置，包括：第一输入电路，该第一输入电路输入采样数据，所述采样数据包含与N个像素的每一个相对应的N个像素数据，N为2以上的整数；判断电路，该判断电路使用针对所述像素的每一个基于数据库来进行设定的阈值，来判断所述采样数据是否满足规定条件；第二输入电路，该第二输入电路输入第一操作指令、第二操作指令；以及显示器，该显示器在判断为所述采样数据满足所述规定条件时，作为与由所述采样数据所包含的K个所述像素数据所表示的K个像素有关的图像来进行显示，K为2以上N以下的整数，所述显示器基于所述第一操作指令，从所述K个所述像素数据中选择性地显示L个所述像素数据，L为2以上K以下的整数，所述显示器基于所述第二操作指令，来显示所述L个所述像素数据中所包含的一个所述像素数据、以及基于所述数据库来对与所述一个所述像素数据相对应的一个所述像素进行设定的分布。

发明效果