[发明专利]数据库评价方法、数据库评价装置在审
| 申请号: | 202080101787.4 | 申请日: | 2020-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN115699081A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
| 发明(设计)人: | 泰松理人 | 申请(专利权)人: | 日本电产株式会社 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06F16/50 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈力奕;宋俊寅 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数据库 评价 方法 装置 | ||
1.一种数据库评价方法,其特征在于,包括:
第一步骤,该第一步骤对N个像素的每一个,使用基于数据库来进行设定的阈值,判断包含与每个所述像素相对应的N个像素数据在内的采样数据是否满足规定的条件,N为2以上的整数;
第二步骤,该第二步骤在判断为所述采样数据满足所述规定条件时,作为与由所述采样数据所包含的K个所述像素数据所表示的K个像素有关的图像来进行显示,K为2以上N以下的整数;
第三步骤,该第三步骤从所述第二步骤中所显示的K个所述像素数据中选择性地显示L个所述像素数据,L为2以上K以下的整数;以及
第四步骤,该第四步骤显示在所述第三步骤中显示的L个所述像素数据中所包含的一个所述像素数据、以及基于所述数据库来对与所述一个所述像素数据相对应的一个所述像素进行设定的分布。
2.如权利要求1所述的数据库评价方法,其特征在于,
所述数据库具有分别包含与每个所述像素相对应的N个像素数据在内的M个图像数据,M为2以上的整数,
所述分布是在所述图像数据的每一个中与所述一个所述像素相对应的所述像素数据即M个对应像素数据的频度分布,
所述数据库评价方法还包括第五步骤,该第五步骤对包含基于所述分布与所述一个所述像素数据的比较结果来确定的所述对应像素数据在内的所述像素数据的信息进行显示。
3.如权利要求2所述的数据库评价方法,其特征在于,
还包括第六步骤,该第六步骤显示用于确定多个所述像素数据的信息,该多个所述像素数据包含通过针对所述分布的异常值检测而判断为异常值的所述对应像素数据。
4.如权利要求2或3所述的数据库评价方法,其特征在于,
还包括第七步骤,该第七步骤针对N个所述像素的每一个,显示使用了M个所述像素数据的工序能力。
5.一种数据库评价装置,其特征在于,包括:
第一输入电路,该第一输入电路输入采样数据,所述采样数据包含与N个像素的每一个相对应的N个像素数据,N为2以上的整数;
判断电路,该判断电路使用针对所述像素的每一个基于数据库来进行设定的阈值,来判断所述采样数据是否满足规定条件;
第二输入电路,该第二输入电路输入第一操作指令、第二操作指令;以及
显示器,该显示器在判断为所述采样数据满足所述规定条件时,作为与由所述采样数据所包含的K个所述像素数据所表示的K个像素有关的图像来进行显示,K为2以上N以下的整数,
所述显示器基于所述第一操作指令,从所述K个所述像素数据中选择性地显示L个所述像素数据,L为2以上K以下的整数,
所述显示器基于所述第二操作指令,来显示所述L个所述像素数据中所包含的一个所述像素数据、以及基于所述数据库来对与所述一个所述像素数据相对应的一个所述像素进行设定的分布。
6.如权利要求5所述的数据库评价装置,其特征在于,还包括:
存储装置,该存储装置将分别包含与每个所述像素相对应的N个像素数据在内的M个图像数据作为所述数据库来进行保存,M为2以上的整数;以及
阈值设定部,该阈值设定部基于所述数据库来设定所述阈值。
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