[发明专利]用于具有电容增益输入级的Delta-Sigma ADC的比率增益误差校准方案在审

专利信息
申请号: 202080037666.8 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN113875159A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: V·奎凯姆波伊克斯;Z·S·特克 申请(专利权)人: 微芯片技术股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/12;H03M1/46;H03M3/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李小芳
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 具有 电容 增益 输入 delta sigma adc 比率 误差 校准 方案
【权利要求书】:

1.一种模数转换器(ADC)电路,所述ADC电路包括:

ADC电压输入端子;

ADC参考输入端子;

采样电路,所述采样电路包括:

采样电压输入端子;

采样电压输出端子;以及

多个电容器,所述多个电容器并联连接并被配置为选择性地启用或禁用,所述多个电容器布置在所述采样电压输入端子和所述采样电压输出端子之间;

多路复用器,所述多路复用器连接在所述ADC电压输入端子和所述采样电压输入端子之间以及所述ADC参考输入端子和所述采样电压输入端子之间;以及

控制逻辑部件,所述控制逻辑部件被配置为在校准操作阶段:

使所述多路复用器将所述ADC参考输入端子路由到所述采样电压输入端子;

确定要校准增益误差的所述ADC电路的给定增益值;

确定所述采样电路中要用于实现所述给定增益值的所述多个电容器的集合;

连续地启用所述多个电容器的所述集合中的电容器子集,

以在所述采样电压输入端子处对所述ADC参考输入端子的电压进行采样,同时禁用所述多个电容器的所述集合中的剩余电容器,直到所述多个电容器的所述集合中的所有电容器已被启用;

确定在启用所述多个电容器的所述集合中的所有电容器之后产生的输出代码;以及

从所述输出代码确定所述ADC电路的所述给定增益值的增益误差;

其中所述控制逻辑部件被进一步配置为基于所述ADC电路的所述给定增益值的所述增益误差采取校正动作。

2.根据权利要求1所述的ADC电路,其中启用所述多个电容器的集合中的每个子集被配置为将所述ADC电路设置为执行增益1。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的ADC电路,其中针对相同数量的样本启用所述多个电容器的所述集合的每个子集。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的ADC电路,其中所述控制逻辑部件被进一步配置为在所述校准操作阶段:

确定要校准增益误差的所述ADC电路的另一增益值;

确定所述采样电路中要用于实现另一增益值的所述多个电容器的另一集合;

连续地启用所述多个电容器的所述另一集合中的电容器子集以在所述采样电压输入端子处对所述ADC参考输入端子的电压进行采样,同时禁用所述多个电容器的所述另一集合中的剩余电容器,直到所述多个电容器的所述另一集合中的所有电容器已被启用;

确定在启用所述多个电容器的所述另一集合中的所有电容器之后产生的另一输出代码;以及

从所述另一输出代码确定所述ADC电路的所述另一增益值的增益误差。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的ADC电路,其中所述控制逻辑部件被进一步配置为:

在所述采样电压输入端子处对所述ADC参考输入端子的电压进行采样,以获得给定数量的样本;以及

对所述多个电容器的所述集合中的每个子集进行采样,以获得所述给定数量的样本的子集,所述给定数量的样本的所述子集等于所述给定数量的样本除以所述给定增益值。

6.根据权利要求5所述的ADC电路,其中所述给定数量的样本除以所述给定增益值的得数没有余数。

7.一种系统,所述系统包括:

ADC电路,所述ADC电路为根据权利要求1至6所述的ADC电路中的任一电路;

输入电压,所述输入电压连接到所述ADC电路的所述ADC电压输入端子,所述ADC电路被配置为将所述输入电压转换为所述输出代码;以及

参考电压源,所述参考电压源连接到所述ADC电路的所述ADC参考输入端子,所述ADC电路被配置为根据由所述参考电压源限定的范围来转换所述输入电压。

8.一种方法,所述方法包括根据权利要求1至7中任一项所述配置的系统或ADC电路的操作。

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