[发明专利]三维测量装置以及三维测量方法在审

专利信息
申请号: 202080032457.4 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN113767263A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 新山孝幸;大山刚;坂井田宪彦 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 宋开元
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 装置 以及 测量方法
【权利要求书】:

1.一种三维测量装置,使规定的测量单元与规定的被测量物上的规定的被测量区域对位,针对配置在所述被测量区域内的被测量对象,通过规定的三维测量法进行三维测量,所述三维测量装置的特征在于,

所述测量单元包括:

第一照射单元,能够向所述被测量区域照射规定的光,所述规定的光用于进行该被测量区域的高度测量;

第二照射单元,能够向所述被测量区域照射规定的图案光,所述规定的图案光用于进行所述被测量对象的三维测量;以及

拍摄单元,能够对照射了所述规定的光或所述规定的图案光的所述被测量区域进行拍摄,

所述三维测量装置包括:

区域高度获取单元,基于照射所述规定的光并由所述拍摄单元拍摄而得到的图像数据来获取所述被测量区域的高度信息;

基准面高度获取单元,基于所述被测量区域的高度信息来计算该被测量区域所包含的多个所述被测量对象各自的测量基准面的高度信息;

需要对焦范围确定单元,针对所述多个被测量对象分别基于所述测量基准面的高度信息来确定在对焦状态下拍摄该被测量对象的高度方向整个区域所需的需要对焦范围;

关联单元,基于所述多个被测量对象的需要对焦范围和所述拍摄单元的景深来进行所述测量单元的高度位置和在该高度位置作为测量对象的所述被测量对象之间的关联;

高度调整单元,被构成为能够使所述测量单元在高度方向上移动,并能够使所述测量单元相对于通过所述关联而确定的规定的高度位置依次进行定位;以及

三维测量单元,能够在所述测量单元被定位的规定的高度位置基于在从所述第二照射单元照射的所述规定的图案光下由所述拍摄单元拍摄而得到的图像数据,对在该高度位置成为测量对象的所述被测量对象执行三维测量。

2.如权利要求1所述的三维测量装置,其特征在于,包括:

次数判定单元,在由所述高度调整单元进行高度调整的前一阶段,在所述测量单元被对位到所述被测量区域时的最初的高度位置执行所述三维测量单元的所述三维测量的情况下,判定在该被测量区域中所需的所述三维测量的次数是否增加,

在所述三维测量的次数不增加的情况下,在所述最初的高度位置执行由所述三维测量单元进行的最初的所述三维测量。

3.如权利要求1或2所述的三维测量装置,其特征在于,包括:

距离判定单元,在进行所述高度调整单元的高度调整的情况下,判定在距所述测量单元被对位到所述被测量区域时的最初的高度位置的移动距离在所述测量单元向通过所述关联确定的所述测量单元的多个高度位置中的最下位的高度位置移动的情况下和向最上位的高度位置移动的情况下哪一个短,

所述高度调整单元使所述测量单元从所述最初的高度位置向所述最下位的高度位置或者所述最上位的高度位置中的移动距离短的一方移动。

4.如权利要求1至3中任一项所述的三维测量装置,其特征在于,

所述关联单元对所述多个被测量对象分别进行所述测量单元的高度位置与所述被测量对象的关联,使得包含该被测量对象的需要对焦范围整体的所述景深至少存在一个。

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