[实用新型]一种半导体芯片测试用可调节支架

权利要求书

1.一种半导体芯片测试用可调节支架，包括安装架(1)，其特征在于：所述安装架(1)的顶部固定连接有放置板(2)，所述放置板(2)的内部设有芯片本体(3)，所述安装架(1)顶部的左右两侧均固定连接有安装块(4)，两个所述安装块(4)相对的一侧均固定连接有第一弹簧(5)，两个所述第一弹簧(5)的另一端均固定连接有L形固定板(6)，所述芯片本体(3)顶部的左右两侧分别与两个L形固定板(6)相对一侧的底部活动连接，两个所述L形固定板(6)的顶部均固定连接有第一伸缩杆(7)，两个所述第一伸缩杆(7)的顶端均活动套接有固定架(8)，两个所述固定架(8)相对的一端均转动连接有L形杆(9)，两个所述L形杆(9)的另一端均转动连接有第二伸缩杆(10)，两个所述第二伸缩杆(10)的另一端均固定连接有安装板(11)，两个所述安装板(11)相对的一侧固定连接有针板(12)，两个所述第二伸缩杆(10)底端的后侧均固定连接有下压板(13)，两个所述下压板(13)的底部均活动连接有连接板(14)，两个所述连接板(14)的顶部分别与两个安装板(11)的底部活动连接，两个所述连接板(14)和针板(12)的底部均固定安装有探针。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用可调节支架，其特征在于：所述安装架(1)顶部的后侧固定连接有竖板(15)，所述竖板(15)的正面固定安装有升降装置(16)，所述升降装置(16)的底端与针板(12)的顶部固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用可调节支架，其特征在于：两个所述第一伸缩杆(7)的顶端均固定连接有限位块(17)，两个所述固定架(8)顶部的相背一侧分别与两个限位块(17)的底部活动连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体芯片测试用可调节支架，其特征在于：两个所述固定架(8)相背的一端均转动连接有插板(18)，两个所述插板(18)相对一侧的顶部分别与两个限位块(17)相背的一侧活动插接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用可调节支架，其特征在于：两个所述固定架(8)正面的相对一侧均固定连接有固定轴，两个所述L形杆(9)的底端分别与两个固定轴的侧表面活动套接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试用可调节支架，其特征在于：两个所述安装板(11)的底部均开设有凹槽，两个所述凹槽的内顶壁均固定连接有第二弹簧(19)，两个所述第二弹簧(19)的底端均固定连接有连接块(20)，两个所述连接块(20)的底部分别与两个连接板(14)的顶部固定连接。