[发明专利]一种基于前景的缺陷检测方法和系统在审

专利信息
申请号: 202011643007.7 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112634264A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 刘晓刚;包振健;赵严;姚毅;杨艺 申请(专利权)人: 凌云光技术股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/90;G06T7/13;G06T7/62
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 前景 缺陷 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于前景的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

从模板图像中的前景区域内选取种子点;

计算前景区域内的像素点相对于所述种子点的灰度波动值;

选取目标像素点构建模板前景目标,所述目标像素点的所述灰度波动值处于预设灰度波动范围内;

根据图像特征生成所述模板前景目标的定位标识;

根据所述定位标识和相似度量从待测图像的前景区域中搜索并定位得到待测背景目标,所述相似度量为待测前景目标与所述模板前景目标之间的相似程度;

计算所述待测前景目标相对于所述模板前景目标的高低差值范围;

从所述高低差值范围中选取检测值;

从所述待测前景目标中筛选出缺陷区域,所述缺陷区域的检测值大于预设的检测阈值。

2.根据权利要求1所述的基于前景的缺陷检测方法,其特征在于,

所述计算前景区域内的像素点相对于所述种子点的灰度波动值包括:

根据所述前景区域的图像颜色组成情况,选择对应的通道;

若所述模板图像为灰度图像,则选取Gray通道;

若所述模板图像为彩色图像,则选取RGB通道、R-G-B通道或所述Gray通道。

3.根据权利要求2所述的基于前景的缺陷检测方法,其特征在于,

所述计算前景区域内的像素点相对于所述种子点的灰度波动值还包括:

在选择所述通道后,再选取对应的灰度波动值提取规则,并根据所述灰度波动值提取规则计算所述前景区域内的像素点相对于所述种子点的灰度波动值,具体为:

当选取所述Gray通道时,则选取的灰度波动值提取规则为:

rGray=θ|Gray-Gray′|;

当选取所述RGB通道时,则选取的灰度波动值提取规则为:

当选取所述R-G-B通道时,则选取的灰度波动值提取规则为:

其中,rGray为选取Gray通道时的灰度波动值,Gray为所述像素点的灰度值,Gray′为所述种子点的灰度值;θ为α、β、γ或1,α、β、γ分别表示R通道、G通道、B通道的权重系数;rRGB为RGB通道时的灰度波动值;rR、rG、rB分别表示R通道、G通道、B通道的灰度波动值;R、G、B分别表示所述像素点R通道、G通道、B通道的像素值;R′、G′、B′为所述种子点R通道、G通道、B通道的像素值。

4.根据权利要求3所述的基于前景的缺陷检测方法,其特征在于,

所述选取目标像素点包括:

判断像素点的所述灰度波动值是否处于所述灰度波动范围内;

若所述灰度波动值处于所述灰度波动范围内,则所述灰度波动值对应的像素点为目标像素点;

或者,若所述灰度波动值不处于所述灰度波动范围内,则所述灰度波动值对应的像素点为非目标像素点。

5.根据权利要求1所述的基于前景的缺陷检测方法,其特征在于,

在所述选取目标像素点构建模板前景目标之后,还包括对所述模板前景目标进行优化,对所述模板前景目标进行优化包括滤除干扰区域和填充孔洞;

所述滤除干扰区域包括:获取相似干扰区域,所述相似干扰区域位于所述模板前景目标的边缘;

设置干扰区域的长度阈值和宽度阈值;

判断所述相似干扰区域的长度和宽度是否分别小于所述长度阈值和所述宽度阈值;

若所述相似干扰区域的长度大于所述长度阈值或/和宽度大于所述宽度阈值,则所述相似干扰区域为干扰区域;

滤除所述干扰区域;

所述填充孔洞包括:所述孔洞位于所述模板前景目标内部;

设置孔洞半径阈值;

判断所述孔洞的半径是否大于或等于所述半径阈值;

若所述孔洞的半径小于或等于所述半径阈值,则填充所述孔洞;

若所述孔洞的半径大于所述半径阈值,则不填充所述孔洞。

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