[发明专利]钝化层及其制备方法、柔性薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板有效
申请号: | 202011596763.9 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112701046B | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 陈荣盛;严乐龙;钟伟 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L21/47 | 分类号: | H01L21/47;H01L29/786;H01L29/06;H01L21/34;H01L27/12;H01L27/32;G02F1/1362 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 齐键 |
地址: | 511458 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 钝化 及其 制备 方法 柔性 薄膜晶体管 阵列 | ||
1.一种柔性薄膜晶体管,包括柔性衬底、栅电极、栅介质层、有源层和源-漏电极层,其特征在于:所述源-漏电极层表面还设置有钝化层;所述钝化层为正十八硫醇自组装单层膜、十八胺自组装单层膜中的一种;所述钝化层的厚度为1nm~5nm;所述钝化层的制备方法包括以下步骤:将制备好源-漏电极层的衬底置于密闭容器中,再将正十八硫醇或十八胺加入密闭容器并加热至熔点,进行气相法沉积,即可在源-漏电极层上形成钝化层。
2.根据权利要求1所述的柔性薄膜晶体管,其特征在于:所述柔性衬底的材质为聚酰亚胺。
3.根据权利要求1或2所述的柔性薄膜晶体管,其特征在于:所述源-漏电极层中的源电极为ITO电极、Al电极、Cu电极、Au电极中的一种;所述源-漏电极层中的漏电极为ITO电极、Al电极、Cu电极、Au电极中的一种。
4.权利要求1~3中任意一项所述的柔性薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)在柔性衬底上依次沉积栅电极、栅介质层、有源层和源-漏电极层;
2)将制备好源-漏电极层的柔性衬底置于密闭容器中,再将正十八硫醇或十八胺加入密闭容器并加热至熔点,进行气相法沉积,即可在源-漏电极层表面形成钝化层,即得柔性薄膜晶体管。
5.一种阵列基板,包括基板和设置在基板上的薄膜晶体管,其特征在于:所述薄膜晶体管为权利要求1~3中任意一项所述的柔性薄膜晶体管。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造